中国科学院沈阳自动化研究所彭紫一获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院沈阳自动化研究所申请的专利一种热电池电极片视觉缺陷检测方法及视觉缺陷检测装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119470456B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411690211.2,技术领域涉及:G01N21/89;该发明授权一种热电池电极片视觉缺陷检测方法及视觉缺陷检测装置是由彭紫一;佟新鑫;李英杰;贾春萍;宫俊玲;刘松;王明;周勇设计研发完成,并于2024-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种热电池电极片视觉缺陷检测方法及视觉缺陷检测装置在说明书摘要公布了:本发明属于机器视觉缺陷检测领域,具体说是一种热电池电极片视觉缺陷检测方法及视觉缺陷检测装置,获取热电池电极片的产品尺寸信息,并对相机视野进行配置;吸取待检测热电池电极片放置于检测平台上,通过多个方向的检测相机拍摄热电池电极片的正面图像,侧面图像,背面图像,以及内孔图像,并进行处理,得到正面图像、侧面图像、背面图像以及内孔图像的待检测图像;根据正面图像、侧面图像、背面图像以及内孔图像的待检测图像,采用训练好的YOLO8识别模型对缺陷进行描述及判定。
本发明授权一种热电池电极片视觉缺陷检测方法及视觉缺陷检测装置在权利要求书中公布了:1.一种热电池电极片视觉缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:获取热电池电极片的产品尺寸信息,并对相机视野进行配置; S2:吸取待检测热电池电极片放置于检测平台上,且放置位于正面检测相机正下方,通过正面检测相机拍摄热电池电极片的正面图像,并进行处理,得到正面图像的待检测图像; S3:旋转四次热电池电极片,并依次拍摄热电池电极片的侧面图像,并进行处理,得到侧面图像的待检测图像; S4:吸取待检测电极片移动至背面检测相机正上方,拍摄热电池电极片的背面图像,并进行处理,得到背面图像的待检测图像; S5:将待检测电极片放置于检测槽内,移动检测槽至内孔相机的正下方,拍摄内孔图像,并进行处理,得到内孔图像的待检测图像; S6:根据正面图像、侧面图像、背面图像以及内孔图像的待检测图像,采用训练好的识别模型对缺陷进行描述及判定; 其中,执行步骤S2和步骤S4,获取所述正面图像的待检测图像和背面图像的待检测图像,具体为: S2-1:根据半径信息,确定热电池电极片感兴趣区域ROI位置,即以图像中心为基准半径的1.2倍为半径切割原始图像,确定感兴趣区域ROI; S2-2:通过对二值化的图像进行霍夫圆检测,获取所有符合条件的圆形的圆心和半径信息; S2-3:根据圆心位置和半径信息,切割感兴趣区域ROI图像,获取热电池内孔与外轮廓之间的图像; S2-4:通过高阈值与低阈值切割热电池内孔与外轮廓之间的图像,得到缺陷区域图像; 步骤S2-4,具体为: a.检测图像中大于高阈值的像素点,得到高亮区域; b.检测图像中小于低阈值的像素点,得到低亮区域; c.通过两次腐蚀操作,两次膨胀操作,滤除图像中的干扰; d.合并高亮区域与低亮区域得到待检测图像。
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