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龙图腾网获悉南京燧锐科技有限公司申请的专利成品测试方法、测量测试系统损耗的方法、设备、介质、产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119471315B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411660470.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权成品测试方法、测量测试系统损耗的方法、设备、介质、产品是由龚妙;蔡鹏设计研发完成，并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本成品测试方法、测量测试系统损耗的方法、设备、介质、产品在说明书摘要公布了：本申请涉及一种测量射频芯片成品测试中测试系统损耗的方法，包括：提供具有标准测试值的标准芯片；通过测试机向标准芯片输入射频信号；测量测试电路板的输出端以获得输出测试值；确定输出测试值与标准测试值的测试差值，并进行判断以确定系统输出损耗。本申请还涉及一种用于射频芯片的成品测试方法、设备、介质、产品。

本发明授权成品测试方法、测量测试系统损耗的方法、设备、介质、产品在权利要求书中公布了：1.一种测量射频芯片成品测试中测试系统损耗的方法，所述测试系统包括测试机、连接到所述测试机的测试电路板、设置在所述测试电路板上的插座，所述插座用于安装芯片以将所述芯片与所述测试电路板电连接； 所述测试系统损耗包括：系统输出损耗，所述系统输出损耗包括：所述插座的输出端与所述测试电路板的输出接触损耗，以及所述芯片的输出端与所述测试电路板的输出端之间的输出路径损耗； 所述测试机中存储有初始输出损耗，所述初始输出损耗包括所述插座的输出端与所述测试电路板的初始输出接触损耗和或所述芯片的输出端与所述测试电路板的输出端之间的初始输出路径损耗； 其特征在于，所述方法包括： 提供标准芯片，所述标准芯片的测试项符合所述成品测试的测试标准，所述标准芯片具有标准测试值； 通过所述测试机向所述标准芯片输入射频信号，所述输入射频信号的功率为无损输入功率与存储的输出损耗之和； 测量所述测试电路板的输出端以获得输出测试值； 确定所述输出测试值与所述标准测试值的测试差值，并进行判断： 当所述测试差值在设定的误差范围内时，将所述初始输出损耗确定为所述系统输出损耗； 当所述测试差值超过设定的误差范围时，对所述存储的输出损耗施加第一补偿偏差，以获得调整输出损耗，重复输入射频信号、测量输出测试值、确定测试差值的步骤，直至所述测试差值在误差范围内时，将所述调整输出损耗确定为所述系统输出损耗，其中，所述调整输出损耗为所述第一补偿偏差与所述存储的输出损耗之和，所述存储的输出损耗包括所述初始输出损耗和所述调整输出损耗。

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