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龙图腾网获悉中国科学院空间应用工程与技术中心申请的专利一种花岗伟晶岩粒度的反演方法、装置和计算设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619012B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411680353.0，技术领域涉及：G01N21/17；该发明授权一种花岗伟晶岩粒度的反演方法、装置和计算设备是由白泳;王金林;周可法;毕建涛;张清;汪玮设计研发完成，并于2024-11-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种花岗伟晶岩粒度的反演方法、装置和计算设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种花岗伟晶岩粒度的反演方法、装置和计算设备，涉及矿物探测技术领域。本发明通过获取多个颗粒样本的多角度反射率光谱数据，颗粒样本为包括一种或多种端元矿物的具有不同粒径的矿体，多角度反射率光谱数据包括多个观测条件参数中每个观测条件参数对应的反射率。根据多角度反射率光谱数据确定目标观测条件参数；基于Hapke模型，根据目标观测条件参数确定花岗伟晶岩的粒径的线性回归方程；根据线性回归方程确定花岗伟晶岩影像中花岗伟晶岩的粒径分布。本发明提供的方法能够实现对花岗伟晶岩遥感的定性分析和定量反演，解决影像靶区圈定精度低、相似光谱难以区分的问题，实现对花岗伟晶岩的快速探测，提升找矿效率。

本发明授权一种花岗伟晶岩粒度的反演方法、装置和计算设备在权利要求书中公布了：1.一种花岗伟晶岩粒度的反演方法，其特征在于，所述方法包括： 获取多个颗粒样本的多角度反射率光谱数据，所述颗粒样本为包括一种或多种端元矿物的具有不同粒径的矿体，所述多角度反射率光谱数据包括多个观测条件参数中每个观测条件参数对应的反射率，所述观测条件参数包括光源入射角度、观测天顶角度和相位角度； 根据所述多角度反射率光谱数据确定目标观测条件参数，所述目标观测条件参数包括目标光源入射角度、目标观测天顶角度和目标相位角度； 基于Hapke模型，根据所述目标观测条件参数确定花岗伟晶岩的粒径的线性回归方程； 根据所述线性回归方程确定花岗伟晶岩影像中花岗伟晶岩的粒径分布，所述花岗伟晶岩影像为基于所述目标观测条件参数获取的图像，所述花岗伟晶岩影像中包括多个花岗伟晶岩区域； 所述根据所述多角度反射率光谱数据确定目标观测条件参数，包括： 确定每个所述颗粒样本在多个观测条件参数下每个观测条件参数对应的各向异性因子和无量纲二向反射因子； 根据所述每个所述颗粒样本在多个观测条件参数下每个观测条件参数对应的各向异性因子和无量纲二向反射因子从所述多个观测条件参数中确定目标观测条件参数，所述目标观测条件参数下的任意两个所述颗粒样本在每个波长处的各向异性因子之间的差值大于等于第一阈值，且任意两个所述颗粒样本在每个波长处的无量纲二向反射因子之间的差值大于等于第二阈值； 所述基于Hapke模型，根据所述目标观测条件参数确定所述花岗伟晶岩的粒径的线性回归方程，包括： 基于Hapke模型，在所述目标观测条件参数下，确定每个所述颗粒样本在多个特征波长中每个特征波长对应的单次散射反照率； 根据每个所述颗粒样本在多个特征波长中每个特征波长对应的单次散射反照率和粒径确定所述多个特征波长中每个特征波长对应的线性回归方程； 其中，所述Hapke模型为： Ri,e,g为在所述目标观测条件参数下的反射率，ω为单次散射反照率，Bg为后向散射函数，Pg为单颗粒相位角函数；i为目标光源入射角度；e为目标观测天顶角度；g为目标相位角度；μ0＝cosi，μ＝cose； 函数Hx的确定公式为： 函数Bg用于表征目标相位角度g和粗糙度参数h的函数； 单颗粒相位角函数Pg的表达式为： 其中，参数c用于表征颗粒样本的前向散射或后向散射的程度，参数b用于表征散射瓣的形状，为入射平面与观测平面之间的夹角，入射平面与水平面之间的夹角为目标光源入射角度，观测平面与水平面之间的夹角为目标观测天顶角度； 所述线性回归方程为： PVλ＝M+N*particlesize； 其中，PVλ为λ波长处单次散射反照率ω的检索值，particlesize为花岗伟晶岩的粒径，M和N为常数。

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