Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
服务订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励

投诉建议

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司单沙沙获国家专利权

中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司单沙沙获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司申请的专利一种消除残余烃影响的地层水电阻率获取方法、系统、装置及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119620168B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202311174580.1,技术领域涉及:G01V1/30;该发明授权一种消除残余烃影响的地层水电阻率获取方法、系统、装置及介质是由单沙沙;李震;隋秀英;周静萍;许阳;李宁;赵毅设计研发完成,并于2023-09-12向国家知识产权局提交的专利申请。

一种消除残余烃影响的地层水电阻率获取方法、系统、装置及介质在说明书摘要公布了:本发明公开了一种消除残余烃影响的地层水电阻率获取方法、系统、装置及介质,包括:基于声波时差曲线、密度曲线、中子测井原理差异,将声波时差曲线和密度曲线反向刻度,得到大孔隙指数SI;将补偿中子与密度曲线反向刻度,得到受残余烃影响的大孔隙指数SI2,两者的差异H与储层中残余烃的含量呈正比;通过多个试油水层进行刻度,可得不同地层水电阻率下的校正系数K;利用校正系数对常规电阻率‑孔隙度图版进行校正,在校正图版上应用底部水层法得到地层水电阻率。本发明克服了此类水层由于电阻率高,导致常规图版计算地层水电阻率值偏大的问题,实现对地层水电阻率的准确计算。

本发明授权一种消除残余烃影响的地层水电阻率获取方法、系统、装置及介质在权利要求书中公布了:1.一种消除残余烃影响的地层水电阻率获取方法,其特征在于,包括: 基于测井测量的声波时差曲线和密度曲线,得到大孔隙指数SI; 基于测井测量补偿中子曲线和密度曲线,得到受残余烃影响的大孔隙指数SI2; 基于大孔隙指数SI与受残余烃影响的大孔隙指数SI2,得到重烃指数H; 结合区域试油资料,通过多个水层刻度和重烃指数H,得到电阻率R0校;基于阿尔奇公式和区域岩电参数计算的纯水层电阻率R0;将R0校与R0进行相比,得到校正系数K; 通过校正系数图版,基于待求取地层水电阻率层段水层的重烃指数H,得到一系列地层水电阻率下的校正系数K,对常规电阻率-孔隙度图版进行校正得到校正后图版; 将待求取地层水电阻率井段的水层进行投影,通过底部水层法得到该井段地层水电阻率; 所述基于测井测量的声波时差曲线和密度曲线,得到大孔隙指数SI,具体为: 其中,为测井测量声波时差值;den为测井测量密度值;a为声波刻度的最小值,b为声波刻度的最大值,c为密度刻度的最小值,d为密度刻度的最大值; 所述基于测井测量补偿中子曲线和密度曲线,得到受残余烃影响的大孔隙指数SI2,具体为: 其中,den和cnl分别为测井测量的密度和补偿中子值;SI2为中子和密度曲线差异值,e为补偿中子刻度最小值,f为补偿中子刻度最大值; 所述基于大孔隙指数SI与受残余烃影响的大孔隙指数SI2,得到重烃指数H,具体为:4; 所述结合区域试油资料,通过多个水层刻度和重烃指数H,得到电阻率R0校,具体为: 其中,A和B均为常数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司,其通讯地址为:100007 北京市东城区东直门北大街9号中国石油大厦;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由AI智能生成
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。