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龙图腾网获悉中国科学院上海天文台申请的专利一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119652434B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411853042.X，技术领域涉及：H04B17/11；该发明授权一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法是由上官伟华;赵融冰;付丽;路如森;刘庆会设计研发完成，并于2024-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法，包括：利用望远镜的毫米波天线对选择的校准源进行扫描，记录得到校准数据，所述校准源为展源；通过退卷积算法处理来自展源的校准数据，根据退卷积结果得到当前的方位轴、俯仰轴的指向误差角度。本发明的一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法通过退卷积算法和噪声抑制技术，有效解决了现有毫米波射电望远镜指向校准中精度不足的问题，显著提升了射电望远镜的校准精度，推动了高频段射电天文学观测的进展。

本发明授权一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法在权利要求书中公布了：1.一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法，其特征在于，包括： 步骤S1：利用望远镜的毫米波天线对选择的校准源进行扫描，记录得到校准数据，所述校准源为展源； 步骤S2：通过退卷积算法处理来自展源的校准数据，根据退卷积结果得到当前的方位轴、俯仰轴的指向误差角度； 在进行扫描时，扫描范围包括高速扫描区域和低速扫描区域，高速扫描区域对应于偏离展源的扫描区域，低速扫描区域对应于指向展源或指向展源附近的扫描区域； 所述步骤S2具体包括： 步骤S21：对校准数据进行预处理； 步骤S22：引入展源模型，将展源亮度值离散化分布在方位角度偏移的网格上，记作展源亮度的离散值； 步骤S24：使用快速傅里叶变换将预处理数据从时域转换到频域，得到频域扫描结果； 步骤S25：基于频域扫描结果和展源亮度的离散值，进行退卷积运算，得到经过退卷积处理后的理想信号； 步骤S26：对经过退卷积处理后的理想信号进行平滑滤波处理，得到滤波后的理想信号； 步骤S27：对滤波后的理想信号进行逆傅里叶变换，恢复到时间域，得到退卷积结果； 步骤S28：对退卷积结果进行高斯模型拟合，得到高斯模型的均值以作为方位轴、俯仰轴的指向误差角度； 在所述步骤S22之后，所述步骤S24之前，还包括步骤S23：利用偏离展源的扫描区域的预处理数据对噪声进行估计，并扣除噪声以得到经过噪声扣除的低速扫描区域的预处理数据； 所述步骤S23具体包括： 步骤S231：对于俯仰角度的预处理数据，去除扫描过程中的偏离展源的扫描区域的信号强度数据，作为噪声数据； 步骤S232：对偏离展源的扫描区域的信号强度数据进行线性拟合，拟合结果为噪声的信号强度y，然后从低速扫描区域的信号强度中扣除噪声的信号强度y，得到经过噪声扣除的低速扫描区域的信号强度。

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