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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利一种芯片测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119689214B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411945774.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片测试方法及系统是由陈明;倪茂;郝晓冉;张义恒设计研发完成，并于2024-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种芯片测试方法及系统，该系统包括：干扰同步装置和干扰装置；干扰同步装置的第一端与被测芯片连接；干扰同步装置的第二端和干扰装置的一端连接，干扰同步装置的第三端与干扰装置另一端连接；其中，干扰同步装置当接收到被测芯片发送的同步指令时，触发干扰装置生成同步干扰信号并对被测芯片测试；在测试过程中被测芯片定时向干扰同步装置发送确认信号；当在预设时间内干扰同步装置未接收到确认信号，则向被测芯片发送异常信号，以输出异常处理信息。通过干扰同步装置精确控制干扰信号的时机，这种精确控制能够使得干扰信号与敏感指令耦合，进而能够有效暴露芯片在特定干扰条件下的异常表现，从而对芯片进行有效故障检测和定位。

本发明授权一种芯片测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统包括：干扰同步装置和干扰装置； 所述干扰同步装置的第一端与被测芯片连接； 所述干扰同步装置的第二端和所述干扰装置的一端连接，所述干扰同步装置的第三端与所述干扰装置另一端连接； 其中，所述干扰装置包括第一干扰源和第二干扰源； 所述第一干扰源与所述干扰同步装置的第二端，所述第二干扰源与所述干扰同步装置的第三端连接； 其中，所述干扰同步装置包括：接线端子、主控芯片、按键组、驱动芯片、数码管和第二继电器； 所述接线端子的一端与被测芯片连接，所述接线端子的另一端与所述第一干扰源连接； 所述接线端子的输入输出端与所述主控芯片的输入输出端连接，所述主控芯片的第一输入端与所述按键组的输出端连接； 所述主控芯片的第一输出端与所述驱动芯片的输入端连接，所述驱动芯片的输出端与所述数码管的输入端连接； 所述主控芯片的第二输出端与所述第二继电器的输入端连接，所述第二继电器的输出端与所述第二干扰源连接； 其中，所述主控芯片当接收到所述被测芯片发送的同步指令时，根据所述按键组输入的延时参数触发所述第一干扰源或者所述第二干扰源生成干扰信号； 其中，所述干扰同步装置当接收到所述被测芯片发送的同步指令时，根据预设延时时间触发所述干扰装置生成同步干扰信号，并通过所述同步干扰信号对所述被测芯片进行测试； 在测试过程中，若在预设时间内所述干扰同步装置未接收到确认信号，则向所述被测芯片发送异常信号；所述确认信号为测试过程中所述被测芯片周期性向所述干扰同步装置发送的信号；所述被测芯片接收到异常信号后，输出异常处理信息。

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