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龙图腾网获悉黑龙江汇芯半导体有限公司申请的专利一种自适应死区时间测试电路及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119716485B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411928474.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种自适应死区时间测试电路及测试方法是由冯宇翔;谢荣才设计研发完成，并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种自适应死区时间测试电路及测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路技术领域，提供了一种自适应死区时间测试电路及测试方法，用于测试HVIC芯片，包括：第一供电电源、第一电容、第二供电电源、第一电阻、第一示波器、第二示波器、第三示波器、第四示波器、第五示波器、第一信号发生器、第二信号发生器、第三信号发生器以及第二电容；第一供电电源的第一端与第一电容的第一端连接并接地，第一供电电源的第二端连接第一电容的第二端并连接至HVIC芯片的VCC端口；第一示波器的第一端与第一信号发生器的第一端连接并连接至HVIC芯片的HIN端口，第一示波器的第二端和第一信号发生器的第二端分别接地。本发明自适应死区时间测试电路的测试效果良好，产品合格率高。

本发明授权一种自适应死区时间测试电路及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种自适应死区时间测试电路，用于测试HVIC芯片，其特征在于，包括：第一供电电源、第一电容、第二供电电源、第一电阻、第一示波器、第二示波器、第三示波器、第四示波器、第五示波器、第一信号发生器、第二信号发生器、第三信号发生器以及第二电容； 所述第一供电电源的第一端与所述第一电容的第一端连接并接地，所述第一供电电源的第二端连接所述第一电容的第二端并连接至所述HVIC芯片的VCC端口；所述第一示波器的第一端与所述第一信号发生器的第一端连接并连接至所述HVIC芯片的HIN端口，所述第一示波器的第二端和所述第一信号发生器的第二端分别接地； 所述第二示波器的第一端与所述第二信号发生器的第一端连接并连接至所述HVIC芯片的LIN端口，所述第二示波器的第二端与所述第二信号发生器的第二端连接并接地，所述第二信号发生器的第二端还连接至所述HVIC芯片的ITRIP端口； 所述第三示波器的第一端与所述第三信号发生器的第一端连接并连接至所述HVIC芯片的EN端口，所述第三示波器的第二端与所述第三信号发生器的第二端连接并接地； 所述第二供电电源的第一端接地，所述第二供电电源的第二端连接所述第一电阻的第一端，所述第一电阻的第二端连接至所述HVIC芯片的FAULT端口； 所述第四示波器的第一端连接所述HVIC芯片的HO端口，所述第四示波器的第二端连接所述第五示波器的第一端并连接至所述HVIC芯片的COM端口，所述第五示波器的第二端连接至所述HVIC芯片的LO端口，所述第二电容的第一端连接至所述HVIC芯片的VB端口，所述第二电容的第二端分别连接所述HVIC芯片的VS端口和所述第五示波器的第一端。

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