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龙图腾网获悉黑龙江汇芯半导体有限公司申请的专利HVIC自适应死区时间测试电路及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119716487B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411985669.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权HVIC自适应死区时间测试电路及方法是由冯宇翔;谢荣才;李斌;单联瑜;潘开林;华庆;李强;盛爽;谭均必;文健;牛冰;李超;谢颖熙;郭家杰设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本HVIC自适应死区时间测试电路及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种HVIC自适应死区时间测试电路及方法。该方法在不同温度下测试每组上下桥输入互补，无死时间的驱动信号，测试上下桥驱动信号是否会根据不同的负载，上下桥驱动信号输出不同死区时间，由于不同的负载，待测电路VS的下降时间不同，通过匹配不同负载与死区时间的关系，来确定对应的死区时间是否合格，以达到检验HVIC自适应死区电路功能的效果，通过本发明的测试方法能够提高电路测试的效率，避免自适应死区功能不合格的产品流入市场。

本发明授权HVIC自适应死区时间测试电路及方法在权利要求书中公布了：1.一种HVIC自适应死区时间测试电路，用于对待测HVIC电路的死区时间进行测试，其特征在于，所述HVIC自适应死区时间测试电路包括直流电源、滤波电容、信号发生器接口和示波器端口，其中： 所述直流电源的第一端连接所述待测HVIC电路的电源端，所述直流电源的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端； 所述滤波电容的第一端连接所述直流电源的第一端，所述滤波电容的第二端连接所述直流电源的第二端； 所述信号发生器接口包括第一接口和第二接口，所述第一接口的第一端连接所述待测HVIC电路的高电平输入端，所述第一接口的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端；所述第二接口的第一端连接所述待测HVIC电路的低电平输入端，所述第二接口的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端； 所述示波器端口包括第一端口和第二端口，所述第一端口的第一端连接所述待测HVIC电路的高电平输出端，所述第一端口的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端；所述第二端口的第一端连接所述待测HVIC电路的低电平输出端，所述第二端口的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端； 所述HVIC自适应死区时间测试电路还包括第一电容、第二电容、第三电容、第一晶体管、第二晶体管、第一电感、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一开关和第二开关，其中： 所述第一电容的第一端连接所述待测HVIC电路的VB端，所述第一电容的第二端连接所述待测HVIC电路的VS端； 所述第一电感的第一端连接所述第一电容的第二端，所述第一电感的第二端连接所述第二电容的第一端；所述第二电容的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端； 所述第三电容的第一端连接高压直流电源，所述第三电容的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端； 所述第一晶体管的栅极连接所述待测HVIC电路的高电平输出端，所述第一晶体管的漏极连接所述高压直流电源，所述第一晶体管的栅极连接所述第一电感的第一端； 所述第二晶体管的栅极连接所述待测HVIC电路的低电平输出端，所述第二晶体管的漏极连接所述待测HVIC电路的接地端，所述第二晶体管的栅极连接所述第一电感的第一端； 所述第一电阻、所述第二电阻、所述第三电阻依次串联连接，所述第一电阻的第一端连接所述第一电感的第二端，所述第三电阻的第二端连接所述待测HVIC电路的接地端； 所述第一开关的第一端连接所述第二电阻的第一端，所述第一开关的第二端连接所述第二电阻的第二端；所述第二开关的第一端连接所述第三电阻的第一端，所述第二开关的第二端连接所述第三电阻的第二端。

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