买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国船舶集团有限公司第七〇九研究所申请的专利一种功率半导体的快速高温测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119780642B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411690327.6，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种功率半导体的快速高温测试方法是由周厚平;顾翼;张明虎;胡勇设计研发完成，并于2024-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种功率半导体的快速高温测试方法在说明书摘要公布了：本发明属于集成电路测试相关技术领域，公开了一种功率半导体的快速高温测试方法，包括：绘制器件内部二极管的压降‑内部结温关系曲线；绘制器件的内部结温‑表面壳温关系曲线；建立有关压降、内部结温以及表面壳温三者之间的关系模型；对测试对象施加预定的加热电压和测试电流，实时监测其内部二极管的压降并根据上述关系模型来计算获得对应的内部结温和表面壳温；当内部结温和表面壳温达到目标值后，立即停止施加加热电压和电流，同时对测试对象开展电气参数测试。通过本发明，能够显著提高整个测试过程的准确性和效率，使得测试条件更接近实际工作状态，同时减少了测试成本，可为功率半导体的设计和应用更为可靠的数据支持。

本发明授权一种功率半导体的快速高温测试方法在权利要求书中公布了：1.一种功率半导体的快速高温测试方法，其特征在于，该方法包括下列步骤： S1、将功率半导体器件样本置于设定温度的温箱中，待器件样本的内外温度平衡后，多次测量该器件样本内部二极管的压降和内部结温数据，并绘制对应的二极管压降与内部结温之间的第一关系曲线也即压降-内部结温关系曲线； S2、将功率半导体器件样本在常温中施加电流使其发热，测量该器件样本内部二极管的压降，并根据所述压降-内部结温关系曲线推导出对应的内部结温；接着，通过控制所施加电流的大小，使得器件样本的内部结温保持为所述内部结温不变，待器件样本内外温度平衡之后，测量此时该器件样本的表面壳温； 多次改变所施加的电流，相应测量该器件样本内部二极管的压降，并分别根据所述压降-内部结温关系曲线推导出对应的内部结温；接着，通过控制各次所施加电流的大小，使得器件样本的内部结温保持为所述内部结温不变，待器件样本内外温度平衡之后，测量各次该器件样本的表面壳温； 基于以上获得的内部结温及表面壳温数据，绘制常温条件下有关器件的内部结温与表面壳温之间的第二关系曲线也即内部结温-表面壳温关系曲线； S3、结合上述压降-内部结温关系曲线和内部结温-表面壳温关系曲线，建立有关二极管的压降、器件的内部结温以及表面壳温三者之间的关系模型也即压降-内部结温-表面壳温关系模型； S4、将作为测试对象的功率半导体器件置于半导体测试系统夹具上，并连接所需要的测试仪器； S5、施加预定的加热电压和测试电流，实现测试对象快速内部升温，并实时监测其内部二极管的实际压降，然后根据上述压降-内部结温-表面壳温关系模型来直接计算获得对应的内部结温和表面壳温的数据； 改变加热电压和测试电流，并按照上述方式检测所述内部二极管的实际压降，直至计算获得的内部结温和表面壳温数据达到设定的目标值； S6、当计算获得的内部结温和表面壳温数据达到设定的目标值时，立即停止施加加热电压和电流，同时对测试对象按照测试项目开展电气参数测试； S7、当测试完成后，更换下一测试对象，转到S4重新开始相应的快速加热和电气参数测试流程。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国船舶集团有限公司第七〇九研究所，其通讯地址为：430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。