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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利一种基于量子弱值放大的光学相位检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119803688B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411966128.3，技术领域涉及：G01J9/00；该发明授权一种基于量子弱值放大的光学相位检测系统是由於亚飞;李鹤翔;孙万寿;赵炜骞;苏子富;黄焯鹏设计研发完成，并于2024-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于量子弱值放大的光学相位检测系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于量子弱值放大的光学相位检测系统，包括依次处于同一光路中的前选择光偏振单元、相位补偿器、样品耦合单元、后选择光偏振单元、光谱仪，相位补偿器通过与其电连接的伺服电机控制引入相位量，处理器通过控制伺服电机调节相位补偿器的引入相位量。该系统计算样品光在弱值放大线性区的相位与相位补偿器的相位和来计算待测样品的光学相位，提高了测量的抗噪能力，有效避免样品光受人为干扰导致的测量结果不准确的问题；通过平均波长变化趋势、光强度变化趋势和平均波长‑相位差数据集可快速调节到弱值放大线性区，解决现有基于弱值放大技术测量样品光学相位时需要花费大量时间与精力去寻找合适的测量点的问题。

本发明授权一种基于量子弱值放大的光学相位检测系统在权利要求书中公布了：1.一种基于量子弱值放大的光学相位检测系统，包括依次处于同一光路中的发光单元、前选择光偏振单元、相位补偿器、样品耦合单元、后选择光偏振单元、光谱仪，及处理器；其中，相位补偿器通过与其电连接的伺服电机控制引入相位量，前选择光偏振单元的透光轴与水平正方向的夹角呈，后选择光偏振单元的透光轴与水平正方向的夹角呈，处理器与伺服电机、光谱仪电连接和或通信连接，其特征在于，处理器通过下述方法获得待测样品的光学相位： S1：获取初始时刻伺服电机的初始位置，并获取初始时刻光谱仪的初始频谱图；判断所述初始频谱图中是否存在双峰： 若为是，执行步骤S2； 若为否，执行步骤S3； S2：控制光谱仪扫描待测样品光谱，得到当前时刻光谱数据；根据当前时刻光谱数据计算当前时刻平均波长；获取当前时刻平均波长在平均波长-相位差数据集中对应分段弱值放大线性区的斜率、原点平均波长，及伺服电机的初始位置和当前位置计算待测样品的光学相位： 式中：表示伺服电机的当前位置，表示伺服电机的初始位置，表示伺服电机最小转动间隔对应的相位补偿器的引入相位量，表示当前时刻光谱数据计算的平均波长，表示所处分段弱值放大线性区对应的原点平均波长，表示所处分段弱值放大线性区对应的斜率； S3：控制伺服电机转动一数据采集步进转动间隔量，根据转动前、转动后平均波长和总光强的波长变化趋势、光强变化趋势，结合平均波长-相位差数据集，控制伺服电机顺时针或逆时针转动若干数据采集步进转动间隔量至频谱图出现双峰，执行步骤S2； 其中，平均波长-相位差数据集的构建包括： SA1：不放置待测样品，控制伺服电机逆时针或顺时针转动至设置的转动总范围边界； SA2：控制伺服电机顺时针或逆时针转动1个数据采集步进转动间隔量，转动方向与步骤SA1的转动方向相反，并控制光谱仪进行N次扫描，N≥3； SA3：计算步骤SA2中每次扫描的光谱数据的平均波长，将N个平均波长的平均值作为各数据采集步进转动间隔量对应的平均波长； SA4：重复步骤SA2、SA3，直至伺服电机转动到设置的转动总范围，根据各数据采集步进转动间隔量对应的相位差、平均波长绘制平均波长-相位差图； SA5：计算一周期内弱值放大线性区各分段弱值放大线性区的斜率； SA6：计算各分段线性区内对应的数据采集步进转动间隔量M，当M为偶数时，将第M2+1次的平均波长作为该分段弱值放大线性区的原点平均波长，当M为奇数时，将第M+12次的平均波长作为该分段弱值放大线性区的原点平均波长。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华南师范大学，其通讯地址为：510006 广东省广州市番禺区外环西路378号华南师范大学光电科学与工程学院；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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