本源量子计算科技(合肥)股份有限公司孔伟成获国家专利权
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龙图腾网获悉本源量子计算科技(合肥)股份有限公司申请的专利数据分类异常的判断方法、装置、存储介质及量子计算机获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119830164B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202311326962.1,技术领域涉及:G06F18/2433;该发明授权数据分类异常的判断方法、装置、存储介质及量子计算机是由孔伟成;请求不公布姓名设计研发完成,并于2023-10-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本数据分类异常的判断方法、装置、存储介质及量子计算机在说明书摘要公布了:本发明公开了数据分类异常的判断方法、装置、存储介质及量子计算机,通过对单个量子比特执行多次量子态读取测量实验,获得表征数据集,在依据表征数据集确定两个高斯圆斑分布,从而确定位于圆心直线两侧的测量数据数量的分布比差值,在将分布比差值与第一阈值限进行比较,当分布比差值大于第一阈值限,就可以快速地判断出数据分类异常,从而推断出多个读取数据中存在异常数据,进一步地,表明量子态读取测量实验中的实验参数有异常,从而使得实验者得知需要调整实验参数进行实验,避免了在错误的实验参数下继续操作而导致的测量效率慢的问题,同时,在此情况下,也无需进行分类保真度的判断,提高了判断的速度。
本发明授权数据分类异常的判断方法、装置、存储介质及量子计算机在权利要求书中公布了:1.一种数据分类异常的判断方法,其特征在于,包括: 对单个量子比特执行多次量子态读取测量实验,获得多个测量数据,其中,测量数据是IQ坐标系的散点数据,多个IQ坐标系的散点数据构成表征数据集; 依据所述表征数据集,确定所述IQ坐标系的平面上的两个高斯圆斑分布,其中,两个高斯圆斑分别为量子态的测量结果处于1态和0态的高斯圆斑; 依据两个高斯圆斑分布,确定位于圆心直线两侧的测量数据数量的分布比差值,其中,圆心直线为连接两个高斯圆斑的两个圆心的直线; 若所述分布比差值大于第一阈值限,则判断数据分类异常;若所述分布比差值小于等于第一阈值限,则依据分类保真度和第二阈值限对数据的分类异常进行判断。
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