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龙图腾网获悉安徽点宇新材料科技有限公司申请的专利一种光学薄膜质量检测设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120044034B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510235629.2，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种光学薄膜质量检测设备是由赵文斌;江晓峰设计研发完成，并于2025-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学薄膜质量检测设备在说明书摘要公布了：本发明涉及薄膜质量检测技术领域，公开了一种光学薄膜质量检测设备。一种光学薄膜质量检测设备，包括：卷辊机构，包括展平辊组件和收纳辊组件，所述展平辊组件向所述收纳辊组件展开并输送薄膜；检测机构，设置于所述展平辊组件和所述收纳辊组件之间，包括整体检测模块和局部检测模块；本发明结合整体检测和局部检测，通过整体检测获取薄膜缺陷位置，然后局部检测缺陷位置区域，局部检测的分析过程可离线操作，因此对光学薄膜的检测聚焦关键区域，而且可以离线精细分析，设备能够在保证检测精度的同时，提高检测效率。

本发明授权一种光学薄膜质量检测设备在权利要求书中公布了：1.一种光学薄膜质量检测设备，其特征在于，包括： 卷辊机构，包括展平辊组件21和收纳辊组件22，所述展平辊组件21向所述收纳辊组件22展开并输送薄膜； 检测机构3，设置于所述展平辊组件21和所述收纳辊组件22之间，包括整体检测模块31和局部检测模块32；所述整体检测模块31用于采集并初步分析薄膜的整体图像，根据初步分析结果对薄膜缺陷位置进行标记；所述局部检测模块32用于采集薄膜被标记位置的局部图像，并对局部图像进行识别分析，判断缺陷种类； 操作台1，用于支撑卷辊机构和检测机构3； 控制模块，用于根据薄膜被标记位置分布调节对薄膜的输送速度； 交互模块4，用于显示薄膜质量的检测结果，检测结果内容包括缺陷位置局部图像以及对应的缺陷种类； 所述展平辊组件21包括： 第一支架211，所述第一支架211上安装有第一卷辊212和多个第一导向辊213； 第一电机，所述第一电机安装在所述第一支架211上，用于驱动所述第一卷辊212转动； 第一电滑轨215，固定安装在所述操作台1的上端，所述第一电滑轨215上滑动连接有限位框216，所述限位框216内滑动连接有上夹持板217和下夹持板218； 所述上夹持板217的上端转动连接有螺钉，所述螺钉螺纹连接在所述限位框216的上端；所述限位框216内固定安装有电推杆，所述电推杆的伸缩端与所述下夹持板218的下端固定连接； 所述收纳辊组件22包括： 第二支架221，固定安装在所述操作台1的上端，所述第二支架221上安装有第二卷辊222和多个第二导向辊223； 第二电机，所述第二电机固定安装在所述第二支架221上，用于驱动所述第二卷辊222转动； 所述整体检测模块31包括： 第二电滑轨311，设置有两个，两个所述第二电滑轨311均竖直安装在所述操作台1的上端，且分别位于展开的薄膜的两侧； 活动梁，所述活动梁的两端分别滑动连接在两个所述第二电滑轨311上，且所述活动梁上安装有用于采集薄膜整体图像的第一摄像头312； 灯光条313，所述灯光条313设置在展开的薄膜的下端； 分析单元，用于根据边缘检测算法初步分析定位薄膜的缺陷位置； 标记单元，用于标记薄膜的缺陷位置，并记录缺陷位置坐标； 所述局部检测模块32包括： 支撑柱321，所述支撑柱321固定安装在所述操作台1的上端，所述支撑柱321的上端固定安装有第三电滑轨322； 安装块323，所述安装块323滑动连接在所述第三电滑轨322上，所述安装块323的下端固定安装有第二摄像头； 面光源324，所述面光源324设置在所述操作台1的上端，并位于所述第三电滑轨322的下方； 所述光学薄膜质量检测设备的控制方法包括以下步骤： 步骤一、驱动第一电机和第二电机同步运行，以薄膜的末端边缘上任意一点为原点建立直角坐标系； 步骤二、对由第一摄像头312采集的薄膜的整体图像进行初步分析，获取薄膜缺陷位置坐标； 步骤三、根据薄膜缺陷位置坐标和薄膜输送速度确立第二摄像头沿第三电滑轨322的运动轨迹； 步骤四、对相邻两个薄膜缺陷位置坐标进行计算分析，根据计算分析结果确立薄膜输送速度调整策略； 对相邻两个薄膜缺陷位置坐标进行计算分析的过程包括： 直角坐标系以薄膜的传输方向的反方向为x轴正方向； 相邻两个薄膜缺陷位置坐标按照被标记的先后顺序依次为、； 若，则通过公式计算获取第二摄像头的运动速度需求值，其中，为薄膜的输送速度； 将运动速度需求值与第二摄像头的运动速度阈值进行对比： 若，则继续以速度输送薄膜； 若，则在第二摄像头采集、对应局部图像的过程中，对薄膜输送进行降速调节，并以速度值输送薄膜。

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