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龙图腾网获悉杭州朗迅科技股份有限公司申请的专利一种老化设备批量上下料装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120300042B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510455679.1，技术领域涉及：H01L21/677；该发明授权一种老化设备批量上下料装置和方法是由刘恩典;周丹锋设计研发完成，并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种老化设备批量上下料装置和方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种老化设备批量上下料装置和方法，涉及自动化设备技术领域。老化设备批量上下料装置包括托盘上下料组件、板卡上下料组件、开盖组件、关盖组件、预测试组件和移栽组件。老化设备批量上下料方法利用该装置，通过托盘上下料组件、板卡上下料组件、开盖组件、关盖组件、预测试组件及移栽组件，实现芯片与板卡的自动上下料、开闭盖、预测试及异常处理的全流程闭环操作，实现老化设备批量上下料的全自动化操作，提升老化设备批量上下料的效率；预测试组件可以及时发现芯片或板卡上的工装的故障，并可以通过调换结构确认具体是芯片或工装的异常，及时对异常的芯片或工装进行处理，避免将异常的芯片或工装进行老化测试，提升老化测试的效率。

本发明授权一种老化设备批量上下料装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种老化设备批量上下料装置，其特征在于，包括托盘上下料组件200、板卡上下料组件300、开盖组件400、关盖组件500、预测试组件600和移栽组件700； 所述托盘上下料组件200用于接收并存储托盘，所述托盘包括上料托盘221、下料托盘222和异常托盘223，所述上料托盘221、下料托盘222和异常托盘223分别承载待测试的芯片100、完成老化测试的芯片100和预测试异常的芯片100； 所述板卡上下料组件300用于接收并存储板卡330，所述板卡330上设有多个工装331，每个所述工装331均包括可打开和关闭的盒盖，在板卡上下料组件300中时盒盖为关闭状态； 所述开盖组件400用于从所述板卡上下料组件300中提取板卡330并对盒盖进行开盖操作，所述关盖组件500用于对盒盖进行关盖操作； 所述预测试组件600包括预测试机构610和调换机构620，所述预测试机构610用于对板卡330上的芯片100进行预测试，所述调换机构620用于将老化板卡330上预测试异常的工装331及其相邻的预测试正常的工装331进行开盖、调换芯片100和关盖操作； 所述移栽组件700用于在所述托盘上下料组件200、板卡上下料组件300、开盖组件400、关盖组件500和预测试组件600之间对托盘、板卡330和芯片100进行移栽。

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