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龙图腾网获悉中国科学院国家天文台申请的专利光谱数据检查方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120508555B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511021102.6，技术领域涉及：G06F16/215；该发明授权光谱数据检查方法及装置是由孔啸;郭炎鑫;张健楠;李双设计研发完成，并于2025-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本光谱数据检查方法及装置在说明书摘要公布了：本申请提供了一种光谱数据检查方法及装置，可以应用于数据处理领域。该方法包括：响应于光谱数据检查请求，获取连接预设标准质量检查数据库集合中各标准质量检查数据库的通用字段；预设标准质量检查数据库集合基于预设质量检查数据库集合和存储在目录中的光谱数据文件建立，预设质量检查数据库集合包括多个各自独立又相互关联的质量检查数据库，每个质量检查数据库对应一个光谱数据处理环节；根据该通用字段，分别对各标准质量检查数据库进行交叉查询，反向定位光谱数据处理环节中的任一环节。以此方式，完善了溯源机制，大大降低了人工成本，提高了检测效率、准确性与覆盖率。

本发明授权光谱数据检查方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种光谱数据检查方法，其特征在于，所述方法包括： 响应于光谱数据检查请求，获取连接预设标准质量检查数据库集合中各标准质量检查数据库的通用字段；其中，所述预设标准质量检查数据库集合基于预设质量检查数据库集合和存储在目录中的光谱数据文件建立，包括：根据天体类型，分别对所述质量检查数据库的各数据表进行统计分析，并将存储在目录中的第一光谱数据文件和所分析的相应质量检查数据库中的第一数据表进行对比，其中，所述天体类型从所述预设质量检查数据库集合中获取，所述数据表包括相应光谱数据处理环节产生的各种数据，所述第一光谱数据文件与所述天体类型关联，所述第一数据表与所述天体类型关联；基于分析结果，修正所述预设质量检查数据库集合，得到预设标准质量检查数据库集合；其中，所述预设质量检查数据库集合包括多个各自独立又相互关联的质量检查数据库，每个质量检查数据库对应一个光谱数据处理环节； 根据所述通用字段，分别对所述各标准质量检查数据库进行交叉查询，反向定位所述光谱数据处理环节中的任一环节。

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