西安电子科技大学温凯获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种基于结构光照明数字散斑干涉的形变测量装置和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120521527B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511036875.1,技术领域涉及:G01B11/16;该发明授权一种基于结构光照明数字散斑干涉的形变测量装置和方法是由温凯;卓可群;武采霞;安莎;郑娟娟;郜鹏设计研发完成,并于2025-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于结构光照明数字散斑干涉的形变测量装置和方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于结构光照明数字散斑干涉的形变测量装置和方法,该装置包括结构光产生及相移单元、成像单元,其中,结构光产生及相移单元包括激光器、设置在激光器的光路上的空间光调制器和空间掩膜板,激光器用于产生激光,空间光调制器用于加载条纹调制图案以形成沿不同方向传播的多束衍射光并实现相移操作,空间掩膜板用于仅选择0级和+1级衍射光束进行干涉以产生结构照明光;成像单元用于记录样品的数字散斑图像。本发明通过在空间光调制器上加载条纹调制图案,结合空间掩膜板选择0级和+1级衍射光束进行干涉来产生快速结构光照明和相移,具有成像速度快的优点,同时相移重复精度高,保证了重构结果的准确性。
本发明授权一种基于结构光照明数字散斑干涉的形变测量装置和方法在权利要求书中公布了:1.一种基于结构光照明数字散斑干涉的形变测量装置,其特征在于,包括结构光产生及相移单元、成像单元;其中, 所述结构光产生及相移单元包括激光器1、设置在所述激光器1的光路上的空间光调制器6和空间掩膜板8,所述激光器1用于产生激光,所述空间光调制器6用于加载条纹调制图案以形成沿不同方向传播的多束衍射光并实现相移操作,所述空间掩膜板8用于选择0级和+1级衍射光束进行干涉以产生结构照明光; 所述结构光产生及相移单元还包括沿所述激光器1的光路方向依次设置的光纤2、线偏振片3、第一薄透镜4,非偏振分光棱镜5、第二薄透镜7和第三薄透镜9;所述成像单元包括分束器10、第四薄透镜12、第五薄透镜13和相机14; 所述成像单元用于记录样品11在不同相移量的结构照明光条件下对应的数字散斑图像; 在所述空间光调制器6上分别加载相移量为0、2π3、4π3的条纹调制图案,以产生多束衍射光并实现相移操作; 具体地,打开所述激光器1和所述相机14,放置形变前的所述样品11,调节所述样品11的位置使其能够清楚成像到所述相机14的像面上;在所述空间光调制器6上依次加载含有0、2π3、4π3相移量对应的条纹调制图案,并利用所述相机14依次记录形变前的所述样品11在0、2π3、4π3相移量的结构照明光条件下的数字散斑图像共三张;放置形变后的所述样品11,在所述空间光调制器6上依次加载含有0、2π3、4π3相移量对应的条纹调制图案,并利用所述相机14依次记录形变后的所述样品11在0、2π3、4π3相移量的结构照明光条件下的数字散斑图像共三张;结合重构算法,对应求解出所述样品11形变前后的相位分布,再根据相位差与形变引起的光程差之间的对应关系得到所述样品11的形变信息,所述对应关系为: , 其中,表示所述样品11形变前后的相位差,表示0级和+1级衍射光束在样品面上的夹角,为所述激光器1发射的激光波长,表示样品形变量。
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