西安泽荃半导体科技有限公司张宇获国家专利权
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龙图腾网获悉西安泽荃半导体科技有限公司申请的专利测试机台及精密测量单元、负载板、信号放大检测电路获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223426780U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422668911.3,技术领域涉及:G01R31/00;该实用新型测试机台及精密测量单元、负载板、信号放大检测电路是由张宇;杨磊;罗雄科设计研发完成,并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试机台及精密测量单元、负载板、信号放大检测电路在说明书摘要公布了:本申请提供一种用于半导体测试的测试机台及精密测量单元、负载板、信号放大检测电路,应用于半导体测试技术领域,其中放大模块将PMU中驱动通道的输出电流进行放大,以及检测模块中通过采样电阻采样驱动通道被放大模块放大后的电压信号,并将放大模块放大后的电流信号向待测试半导体器件输出,进而基于放大检测模块对PMU输出的驱动电路进行放大,能够避免测试中需要合并通道而减少了通道数量,有利于提高半导体测试效率,以及检测模块将信号返回到PMU感知通道开展检测,有利于提高检测精度。
本实用新型测试机台及精密测量单元、负载板、信号放大检测电路在权利要求书中公布了:1.一种半导体精密测量单元信号放大检测电路,其特征在于,包括: 放大模块,用于根据待测试半导体器件在测试中所需的电流和半导体自动化测试设备中精密测量单元的目标驱动通道能够提供的电流能力,将目标驱动通道的输出电流按预设倍数进行放大,目标驱动通道为精密测量单元用于驱动待测试半导体器件的驱动通道; 检测模块,包括采样电阻和检测电路,其中采样电阻用于采样目标驱动通道被放大模块放大后的电压信号;检测电路用于将放大模块放大后的电流信号向待测试半导体器件输出,以及利用精密测量单元的感知通道对采样电阻采样的电压信号进行检测。
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