深圳市恩博半导体科技有限公司郑志新获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市恩博半导体科技有限公司申请的专利一种存储芯片测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223427247U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-10发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422972101.7，技术领域涉及：G11C29/56；该实用新型一种存储芯片测试装置是由郑志新设计研发完成，并于2024-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储芯片测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种存储芯片测试装置，包括测试座和多个待测试芯片，所述测试座上设有多个测试槽，测试座的表面位于测试槽的两侧均安装有侧板，测试座的表面位于测试槽的前方均安装有挡板，测试槽的内壁面上均设有与外界连通的通道，测试座的上方正对于通道处均设有夹具，夹具上均设有插槽，待测试芯片均插入至插槽中。本实用新型结构简单，待测试芯片的两侧面能受到第二导流部的挤压，使待测试芯片能两侧居中正对于测试槽，而在待测试芯片下降时，能受到第一导流部的挤压，使待测试芯片能精准的与测试座垂直相对，且通过升降组件能一次性完成多块待测试芯片的安装及后续的拆卸，大大的增加了便捷性。
本实用新型一种存储芯片测试装置在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片测试装置，其特征在于：包括测试座1和多个待测试芯片5，所述测试座1上设有多个测试槽2，测试座1的表面位于测试槽2的两侧均安装有侧板3，测试座1的表面位于测试槽2的前方均安装有挡板4，测试槽2的内壁面上均设有与外界连通的通道13，测试座1的上方正对于通道13处均设有夹具6，夹具6上均设有插槽14，待测试芯片5均插入至插槽14中，测试座1的一侧安装有同步带动夹具6上下移动的升降组件。
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