长鑫存储技术有限公司王佳获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利一种数据路径检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115775588B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111047660.1，技术领域涉及：G11C29/44；该发明授权一种数据路径检测方法、装置、设备及存储介质是由王佳设计研发完成，并于2021-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种数据路径检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种数据路径检测方法、装置、设备及存储介质，应用于半导体集成电路的数据路径的检测过程。其中，数据路径检测方法包括：检测装置断开数据路径中全局数据线与本地数据线的连接，通过数据路径的写入端口，将测试数据经由数据路径写入至数据路径中的全局数据线，在预设条件下，检测装置读取全局数据线的目标数据，进而根据测试数据和目标数据，检测数据路径的缺陷。使用本公开中的数据路径检测方法，即使在半导体集成电路的阵列单元存在问题的情况下，依然能够测试数据路径是否存在缺陷，测试效果更佳，节省了半导体集成电路的整体测试时间。
本发明授权一种数据路径检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种数据路径检测方法，应用于半导体集成电路的数据路径的检测过程，其特征在于，所述数据路径检测方法包括： 检测装置断开所述数据路径中全局数据线与本地数据线的连接；所述全局数据线与所述本地数据线与本地读写转换模块连接； 检测装置通过所述数据路径的写入端口和写入驱动电路，将测试数据经由所述数据路径写入至所述数据路径中的所述全局数据线； 在预设条件下，检测装置通过读电路读取所述全局数据线的目标数据，其中，所述读电路与所述写入驱动电路连接； 检测装置根据所述测试数据和所述目标数据，检测所述数据路径的缺陷。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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