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龙图腾网获悉北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司申请的专利一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119026565B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410989408.X，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置是由雷黎丽;张峻卿设计研发完成，并于2024-07-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片诊断覆盖率技术领域，公开了一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置，包括以下步骤：根据RTL代码阶段的安全机制设计，通过EDA工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上，对芯片模块进行诊断覆盖率的测试；获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障所进行诊断覆盖率的测试结果；计算被归类的测试结果各自在总体测试结果中的占比，并基于ISO26262标准评判所述安全机制在工作状态下的诊断覆盖率。针对仿真评估诊断覆盖率不够合理、准确的特征设计多种测试情况，并据此设置多个诊断覆盖率的计算公式，通过故障注入仿真为仿真数据，以更合理的计算模型带入仿真数据，计算出更为准确、更为合理的仿真覆盖率。

本发明授权一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：包括以下步骤： 根据RTL代码阶段的安全机制设计，通过EDA工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上，对芯片模块进行诊断覆盖率的测试； 获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障所进行诊断覆盖率的测试结果； 计算被归类的测试结果各自在总体测试结果中的占比，并基于ISO26262标准评判所述安全机制在工作状态下的诊断覆盖率； 其中，将不同类型的故障注入时，包括： 对故障注入仿真为仿真数据，将所述仿真数据带入至不同的故障模型上实现诊断覆盖率的测试； 所述故障模型基于同一或多个仿真环境建立； 针对不同的被测芯片模块及故障模型设计不同的测试激励，不同的测试激励输出不同的测试结果； 其中，获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障进行诊断覆盖率的测试结果，包括： 基于故障注入的结果是否能够被所述安全机制捕捉分为可监控及不可监控； 其中，包括5个可适用于被测模块存在多个故障注入仿真测试激励，具备多个故障注入仿真结果情况下的DC计算模型； 当所述故障模型基于同一仿真环境建立时的诊断覆盖率，包括： 在多个安全机制下，诊断覆盖率的计算采用合并不足的方式进行计算，通过式1实现计算： DCME％＝DC1+DC2*1-DC1+DC3*1-DC1-DC2*1-DC1...1； 在多个安全机制下，诊断覆盖率采取平均值，通过式2实现计算： 在多个安全机制下，诊断覆盖率采用保守结果，通过式3实现计算： DCeff＝DClowest3； 其中，DC1、DC2、DC3是指不同安全机制对于被测模块的诊断覆盖率，DCeff为诊断覆盖率，DClowest为最低的安全机制诊断覆盖率； 当所述故障模型基于多个仿真环境建立时的诊断覆盖率，包括： 多个不同的诊断覆盖率的情况下，通过式4计算总体的平均值： 单个安全机制下出现不同的诊断覆盖率的情况下，通过式5计算得到：

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