大连理工大学韩雪获国家专利权
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龙图腾网获悉大连理工大学申请的专利一种激发波长可选、以铝为表面等离子体共振材料的强度调制传感方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119880857B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510047559.8，技术领域涉及：G01N21/552；该发明授权一种激发波长可选、以铝为表面等离子体共振材料的强度调制传感方法是由韩雪;范怀坤;杨宇翔;石林设计研发完成，并于2025-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种激发波长可选、以铝为表面等离子体共振材料的强度调制传感方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学传感检测技术领域，尤其涉及一种激发波长可选、以铝为表面等离子体共振材料的强度调制传感方法。根据激发波长与最佳铝薄膜厚度的线性关系，得到选定激发波长的铝薄膜最佳厚度；根据热蒸镀技术制备对应最佳厚度的铝薄膜；通过表面等离子体共振检测系统测定铝薄膜的反射角谱，标定强度调制的固定入射角度；改变铝薄膜所接触的介质环境，实时检测反射强度，根据折射率与反射光强的线性关系，获得介质环境的折射率。本发明以铝作为表面等离子体共振材料，实现从深紫外到近红外的表面等离子体共振，利用其在400nm～700nm范围内折射率的实部和虚部近似线性特性，实现此波长范围内激发光波长的任意选择。
本发明授权一种激发波长可选、以铝为表面等离子体共振材料的强度调制传感方法在权利要求书中公布了：1.一种激发波长可选、以铝为表面等离子体共振材料的强度调制传感方法，其特征在于，包括： 步骤a、选定激发波长后，根据激发波长与最佳铝薄膜厚度的线性关系，得到选定激发波长的铝薄膜最佳厚度； 步骤b、根据热蒸镀技术制备对应最佳厚度的铝薄膜； 步骤c、通过表面等离子体共振检测系统测定铝薄膜的反射角谱，标定强度调制的固定入射角度； 步骤d、改变铝薄膜所接触的介质环境，实时检测反射强度，根据折射率与反射光强的线性关系，获得介质环境的折射率; 所述激发波长与最佳铝薄膜厚度的线性关系为y=-0.02662x+30.86496，y为铝薄膜厚度，单位为nm，x为激发波长，单位为nm;所述激发波长为400~700nm区间内任意选择; 所述强度调制的固定入射角度根据公式θ14=θR-θR-θtot4获得，所述θ14为强度调制的固定入射角度，θtot为反射角度谱线的全反射点，θR为反射角度谱线的共振点。
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