深圳精智达技术股份有限公司杨硕获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种检测异物的方法、系统、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120375103B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510865133.3,技术领域涉及:G06V10/764;该发明授权一种检测异物的方法、系统、电子设备及存储介质是由杨硕;崔乔乔设计研发完成,并于2025-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种检测异物的方法、系统、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种检测异物的方法、系统、电子设备及存储介质,用于降低OLED屏的损失。本申请的检测异物的方法包括:获取摄像模块采集到的多个目标检测图像;分别从多个目标检测图像中提取多个缺陷成像特征;分析多个缺陷成像特征,获得分析结果;分别对多个目标检测图像的有效显示区域进行矫正,获得多个矫正图像;对第二矫正图像的缺陷区域和第三矫正图像的缺陷区域进行交集运算,获得运算结果;计算运算结果的面积与第三矫正图像的缺陷区域的面积的比值,和运算结果的面积与第二矫正图像的缺陷区域的面积的比值,获得两个比值结果;分别将两个比值结果与预设阈值进行对比,获得两个对比结果;根据分析结果和两个对比结果确认异物的位置。
本发明授权一种检测异物的方法、系统、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种检测异物的方法,其特征在于,包括: 获取摄像模块采集到的多个目标检测图像,所述摄像模块包括上相机、下相机、上光源和下光源,所述多个目标检测图像包括第一检测图像、第二检测图像、第三检测图像和第四检测图像; 所述获取摄像模块采集到的多个目标检测图像包括:获取所述上相机和所述上光源组合采集到的第一检测图像;获取所述上相机和所述下光源组合采集到的第二检测图像;获取所述下相机和所述上光源组合采集到的第三检测图像;获取所述下相机和所述下光源组合采集到的第四检测图像; 分别从所述多个目标检测图像中提取对应的多个缺陷成像特征; 分析所述多个缺陷成像特征,获得分析结果; 分别对所述多个目标检测图像的有效显示区域进行矫正,获得多个矫正图像,所述多个矫正图像包括第一矫正图像、第二矫正图像、第三矫正图像和第四矫正图像; 对所述第二矫正图像的缺陷区域和所述第三矫正图像的缺陷区域进行交集运算,获得运算结果; 计算所述运算结果的面积与所述第三矫正图像的缺陷区域的面积的比值,和所述运算结果的面积与所述第二矫正图像的缺陷区域的面积的比值,获得两个比值结果; 分别将所述两个比值结果与预设阈值进行对比,获得两个对比结果; 根据所述分析结果和所述两个对比结果确认所述异物的位置。
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