深圳精智达技术股份有限公司张景程获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120471917B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510969009.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质是由张景程;杨硕;胡亮设计研发完成，并于2025-07-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高对浅层缺陷的检测精度。获取待测显示屏的反射条纹图；对反射条纹图进行相位回复，生成第一相位恢复数据；根据第一相位恢复数据计算生成第一相位梯度幅值图；根据第一相位梯度幅值图在每个像素处构建局部平均背景梯度；根据第一局部平均背景梯度图和第一相位梯度幅值图生成第一梯度残差图；对第一梯度残差图进行视觉对比度增强处理；对第一异常增强图进行自适应阈值判定，生成第一结构缺陷掩膜图；将第一相位梯度幅值图、第一异常增强图和第一结构缺陷掩膜图进行特征融合；将第一特征融合图输入目标浅层缺陷识别模型进行浅层缺陷检测，生成浅层缺陷检测结果。
本发明授权一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于相位残差的浅层缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取目标类型的待测显示屏的反射条纹图； 对所述反射条纹图进行相位恢复，生成第一相位恢复数据； 根据所述第一相位恢复数据计算生成第一相位梯度幅值图； 根据所述第一相位梯度幅值图在每个像素处构建局部平均背景梯度，生成第一局部平均背景梯度图； 根据所述第一局部平均背景梯度图和所述第一相位梯度幅值图生成第一梯度残差图； 对所述第一梯度残差图进行视觉对比度增强处理，生成第一异常增强图； 对所述第一异常增强图进行自适应阈值判定，生成第一结构缺陷掩膜图； 将所述第一相位梯度幅值图所述第一异常增强图和所述第一结构缺陷掩膜图进行特征融合，生成第一特征融合图； 将所述第一特征融合图输入目标浅层缺陷识别模型进行浅层缺陷检测，生成浅层缺陷检测结果。
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