长川半导体(深圳)有限公司王伟群获国家专利权
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龙图腾网获悉长川半导体(深圳)有限公司申请的专利信号采集装置及半导体测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120629862B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511114954.X，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权信号采集装置及半导体测试设备是由王伟群;任春茂;谢亮;黄广龙;莫业军;许培金设计研发完成，并于2025-08-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本信号采集装置及半导体测试设备在说明书摘要公布了：本申请涉及半导体测试技术领域，提供了一种信号采集装置及半导体测试设备。该信号采集装置包括测试电路板、载盘和采集组件，载盘设有用于限位被测模块的承载部；采集组件包括第一采集探针和第二采集探针，两者均包括压接端和传输端，两个传输端并联于测试电路板，两个压接端的端部相对设置。本申请提供的信号采集装置通过相对且间隔布置的第一采集探针和第二采集探针分别与引脚相对两侧壁压接配合，以形成双重保护，进而降低了因探针与引脚接触不良而导致的误判风险。
本发明授权信号采集装置及半导体测试设备在权利要求书中公布了：1.一种信号采集装置，其特征在于，包括： 测试电路板； 载盘10，设有用于限位被测模块200的承载部101； 采集组件20，包括第一采集探针21和第二采集探针22，两者均包括压接端201和传输端202，两个所述传输端202并联于所述测试电路板，所述第一采集探针21和所述第二采集探针22沿所述载盘10的厚度方向相对且间隔布置，以使各自对应的所述压接端201的端部相对设置； 导通结构23，所述第一采集探针21和或所述第二采集探针22的传输端202连接有所述导通结构23，并通过所述导通结构23与所述测试电路板连接； 所述导通结构23包括导通条231和导通探针232，所述导通条231设于所述载盘10，并与所述第一采集探针21或第二采集探针22可导电地连接，所述导通探针232一端连接于所述测试电路板，另一端能够与所述导通条231压接配合。
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