深圳市嘉德半导体技术有限公司江小俊获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市嘉德半导体技术有限公司申请的专利一种闪存测试板及测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223436340U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-14发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422975552.6，技术领域涉及：G11C29/56；该实用新型一种闪存测试板及测试装置是由江小俊;黄传红;乐群英设计研发完成，并于2024-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种闪存测试板及测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型提供一种闪存测试板及测试装置，涉及闪存测试技术领域。该闪存测试板及测试装置，包括基板，所述基板一侧设置有数据连接口，所述基板上侧设置有两个测试芯片，所述基板四角均开设有预留孔，所述基板上侧固定有若干个安装架，每个所述安装架内壁均设置有测试座，每个所述测试座两侧均开设有卡槽；每个所述安装架两侧均开设有滑槽，每个所述滑槽内壁均滑动连接有滑盘。该闪存测试板及测试装置，通过人力按压测试座进行下移作业，实现限位插接的效果，达到延长闪存测试板及测试装置使用寿命的作用，通过人力按压测试座进行下移作业，实现便捷安装拆卸的效果，达到提高闪存测试板及测试装置使用便捷性的作用。
本实用新型一种闪存测试板及测试装置在权利要求书中公布了：1.一种闪存测试板，包括基板1，所述基板1一侧设置有数据连接口2，所述基板1上侧设置有两个测试芯片3，所述基板1四角均开设有预留孔4，其特征在于：所述基板1上侧固定有若干个安装架5，每个所述安装架5内壁均设置有测试座6，每个所述测试座6两侧均开设有卡槽13； 每个所述安装架5两侧均开设有滑槽7，每个所述滑槽7内壁均滑动连接有滑盘8，每个所述滑盘8下端均固定有弹簧9，每相邻两个所述滑盘8相近端均固定有限位板10； 每个所述限位板10上端均设置有连接结构，连接结构上均设置有卡块12；连接结构能够带着卡块12以安装架5宽度方向做滑动，以带动卡块12插入相对应的卡槽13内，以对测试座6进行限位。
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