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龙图腾网获悉中国人民解放军战略支援部队信息工程大学申请的专利基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113870376B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111164150.2，技术领域涉及：G06F17/10；该发明授权基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法及系统是由韩玉;刘梦楠;闫镔;李磊;席晓琦;谭思宇;朱林林;杨双站设计研发完成，并于2021-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法及系统在说明书摘要公布了：本发明属于CT校正技术领域，特别涉及一种基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法及系统，获取纳米CT扫描的正常投影数据，并基于纳米CT扫描的参数通过局部角度旋转获取参考投影数据；将局部旋转角度作为参考角度，获取正常投影数据与参考投影数据的Surf描述子，利用Surf描述子提取正常投影数据和参考投影数据的特征点对；通过正常投影数据和参考投影数据两者之间的结构相似性筛选特征点对，依据筛选出的特征点对来计算参考角度投影漂移量；依据投影漂移量对正常投影数据进行亚像素级平移，以实现漂移伪影校正。本发明能够利用Surf描述子和投影的结构相似性SSIM准确完成漂移伪影校正，改善图像重建质量，具有较好市场应用价值。

本发明授权基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于Surf特征点匹配的纳米CT漂移伪影校正方法，其特征在于，包含如下内容： 获取纳米CT扫描的正常投影数据，并基于纳米CT扫描的参数通过局部角度旋转获取参考投影数据； 将局部旋转角度作为参考角度，设置x，y表示图像像素点，Iquery，θx,y表示局部旋转角度为θ的正常投影数据，Itrain,θx,y表示参考投影数据，利用Surf算法获取正常投影数据与参考投影数据用于匹配特征点的Surf描述子，利用Surf描述子提取正常投影数据和参考投影数据的特征点对； 依据参考投影数据旋转角度，逐对计算各特征点指导漂移量，该指导漂移量包含指导水平漂移量和指导垂直漂移量；根据各特征点对的指导漂移量移动正常投影数据，计算移动后的正常投影数据和参考投影数据之间用于利用图像灰度值衡量图像相似程度的结构相似性；依据结构相似性大小排序，选取满足条件的特征点对作为筛选结果，以通过正常投影数据和参考投影数据两者之间的结构相似性筛选特征点对，依据筛选出的特征点对来计算参考角度投影漂移量，其中，特征点指导漂移量计算公式表示为：shiftxθ,i和shiftyθ,i分别表示旋转角度θ的第i对特征点{xquery,i,yquery,i,xtrain,i,ytrain,i}的指导水平漂移和指导垂直漂移量； 针对筛选得到的投影漂移量，利用其均值作为投影伪影校正的漂移量，并依据漂移量对正常投影数据进行亚像素级平移，以实现漂移伪影校正。

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