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龙图腾网获悉苏州兆芯半导体科技有限公司申请的专利参数处理方法及装置、跟踪电路返回比例确定方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114639400B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210255656.2，技术领域涉及：G11C5/02；该发明授权参数处理方法及装置、跟踪电路返回比例确定方法及装置是由王林;李世程;陈根华设计研发完成，并于2022-03-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本参数处理方法及装置、跟踪电路返回比例确定方法及装置在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种参数处理方法及装置，该方法包括：获取用于确定跟踪电路的返回比例的连续函数。确定至少一个样例存储器实例。根据至少一个样例存储器实例的存储阵列，确定连续函数中各个参数的取值，得到确定参数取值的连续函数。通过根据多个样例存储器实例中的存储阵列，确定用于确定跟踪电路的返回比例的连续函数中各个参数的取值，以得到确定参数取值的连续函数，其中确定参数取值的连续函数可以针对各个不同的存储器实例，动态的确定跟踪电路的返回比例，从而可以在不增加设计复杂度的基础上，有效缓解了不同的存储器实例的设计余量相差较大的问题。

本发明授权参数处理方法及装置、跟踪电路返回比例确定方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种参数处理方法，其特征在于，包括： 确定至少一个样例存储器实例； 根据所述至少一个样例存储器实例的存储阵列，确定连续函数中各个参数的取值，其中，所述连续函数用于确定跟踪电路的返回比例； 所述连续函数为： 其中，所述为所述跟踪电路的返回比例，所述为行数，所述为列数，所述A为 第一参数，所述B为第二参数，所述C为第三参数； 所述根据所述至少一个样例存储器实例的存储阵列，确定所述连续函数中各个参数的取值，包括： 获取第一存储阵列的行数和列数，以及获取第二存储阵列的行数和列数，以及获取第三存储阵列的行数和列数； 根据所述第一存储阵列的行数和列数以及所述连续函数，确定第一表达式：，其中，所述为第一返回比例，所述为所 述第一存储阵列的行数，所述为所述第一存储阵列的列数； 根据所述第二存储阵列的行数和列数以及所述连续函数，确定第二表达式：，其中，所述为第二返回比例，所述为所 述第二存储阵列的行数，所述为所述第二存储阵列的列数； 根据所述第三存储阵列的行数和列数以及所述连续函数，确定第三表达式：，其中，所述为第三返回比例，所述为所 述第三存储阵列的行数，所述为所述第三存储阵列的列数； 根据所述第一表达式、所述第二表达式、所述第三表达式，确定所述连续函数中的第一参数的取值、第二参数的取值以及第三参数的取值。

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