上海禾赛科技有限公司方亮获国家专利权
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龙图腾网获悉上海禾赛科技有限公司申请的专利激光雷达视场的校正方法、计算机可读存储介质及激光雷达获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115220019B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210891368.6，技术领域涉及：G01S7/497；该发明授权激光雷达视场的校正方法、计算机可读存储介质及激光雷达是由方亮;向少卿设计研发完成，并于2022-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本激光雷达视场的校正方法、计算机可读存储介质及激光雷达在说明书摘要公布了：本发明提供一种激光雷达视场的校正方法，所述激光雷达包括扫描装置，所述扫描装置用于在所述激光雷达视场进行扫描，所述校正方法包括：S11：根据点云，获取点云特征信息，所述点云特征信息包括参考物的轮廓、所述参考物的距离、所述参考物的反射率、所述参考物对应的点云中扫描线数量、所述参考物对应的点云的总点数中一项或多项；S12：根据所述点云特征信息，调节所述扫描装置的位姿，以校正所述激光雷达视场。本发明可以减小激光雷达的近距离盲区，并且能够避免由于视场偏移导致激光雷达无法正常探测的问题。本发明无需额外设置标靶或标定场景，启动校正功能实时地完成校正操作，从而节省召回成本。
本发明授权激光雷达视场的校正方法、计算机可读存储介质及激光雷达在权利要求书中公布了：1.一种激光雷达视场的校正方法，所述激光雷达包括扫描装置，所述扫描装置用于在所述激光雷达视场进行扫描，所述校正方法包括： S11：根据点云，获取点云特征信息，所述点云特征信息包括参考物的轮廓、所述参考物的距离、所述参考物的反射率、所述参考物对应的点云中扫描线数量、所述参考物对应的点云的总点数中一项或多项； S12：根据所述点云特征信息，调节所述扫描装置的位姿，以校正所述激光雷达视场； 其中所述步骤S12还包括：确定所述激光雷达的视场偏移量，根据所述视场偏移量调节所述扫描装置的位姿；确定所述激光雷达的垂直视场的下边界高于所述参考物的上边界时所述扫描装置的位姿，调节所述扫描装置至该位姿，以校正所述激光雷达的垂直视场。
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