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龙图腾网获悉北京量子信息科学研究院;清华大学申请的专利微区瞬态吸收光谱测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115493695B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211080289.3，技术领域涉及：G01J3/42；该发明授权微区瞬态吸收光谱测量系统是由谷鹏;刘海云;胡立立;熊启华设计研发完成，并于2022-09-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本微区瞬态吸收光谱测量系统在说明书摘要公布了：本申请提供一种微区瞬态吸收光谱测量系统，包括：测量光源；第一半透半反镜，接收光束后分光；激发光路，包括光参量放大器和第一聚焦透镜，垂直光束经光参量放大器和第一聚焦透镜后聚焦于待测样品；探测光路，包括第二聚焦透镜、非线性晶体、第一带通滤光片、第一离轴抛物面反射镜和第二离轴抛物面反射镜，水平光束经第二聚焦透镜、非线性晶体、第一带通滤光片、第一离轴抛物面反射镜和第二离轴抛物面反射镜聚焦于待测样品；测量组件，包括准直透镜和光谱仪，聚焦探测光透过待测样品后，经准直透镜进入光谱仪中测量。本申请的微区瞬态吸收光谱测量系统基于离轴抛物面反射镜，适用于入射光斑面积大、光谱范围宽的入射光束，且可显著降低成本。

本发明授权微区瞬态吸收光谱测量系统在权利要求书中公布了：1.一种微区瞬态吸收光谱测量系统，其特征在于，包括： 测量光源； 第一半透半反镜，接收所述测量光源发出的测量光束后分光为水平光束和垂直光束； 激发光路，包括光参量放大器和第一聚焦透镜，所述垂直光束经所述光参量放大器改变光波长后，由所述第一聚焦透镜聚焦于待测样品并对待测样品进行激发； 探测光路，包括第二聚焦透镜、非线性晶体、第一带通滤光片、第一离轴抛物面反射镜和第二离轴抛物面反射镜，所述水平光束经所述第二聚焦透镜聚焦于所述非线性晶体后产生超连续光，所述超连续光经所述第一带通滤光片过滤后形成探测光，所述探测光经所述第一离轴抛物面反射镜反射形成平行探测光，所述平行探测光经所述第二离轴抛物面反射镜反射形成聚焦探测光并聚焦于所述待测样品；所述探测光路还包括：扩束准直组件，包括第三离轴抛物面反射镜和第四离轴抛物面反射镜，设置于所述第二离轴抛物面反射镜和所述待测样品之间，所述探测光依次经过所述第一离轴抛物面反射镜、所述第二离轴抛物面反射镜、所述第三离轴抛物面反射镜和所述第四离轴抛物面反射镜调整后聚焦于所述待测样品； 测量组件，包括准直透镜和光谱仪，所述聚焦探测光透过所述待测样品后，由所述准直透镜准直为平行测量光并进入所述光谱仪中测量光谱。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京量子信息科学研究院;清华大学，其通讯地址为：100193 北京市海淀区中关村软件园二期国际与区域协同创新中心A座；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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