武汉锐科光纤激光技术股份有限公司熊文登获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉锐科光纤激光技术股份有限公司申请的专利光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116086625B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310099344.1,技术领域涉及:G01J5/48;该发明授权光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质是由熊文登;陈玉杰;柳书桥;杨康;曹其;肖光宗设计研发完成,并于2023-01-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明公开了一种光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质,该方法应用于光栅测试设备,光栅测试设备包括测温装置、水冷系统、功率计、电学模块和光学模块,该方法包括:在通过测温装置测量待测光栅时,控制电学模块为光学模块供电,并通过光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光;控制所述测温装置对通光的待测光栅进行测温,并获取测温装置的测试温度、目标光的输出功率和水冷系统的冷却液参数;根据测试温度、输出功率和冷却液参数确定待测光栅的温升系数。本发明在测量温升系数时,将冷却液参数考虑在内确定待测光栅的温升系数,提高了温升系数测试的准确度。
本发明授权光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种光栅温升系数测试方法,其特征在于,所述光栅温升系数测试方法应用于光栅测试设备,所述光栅测试设备包括测温装置、水冷系统、功率计、电学模块和光学模块,所述方法包括: 在通过所述测温装置测量待测光栅时,控制所述电学模块为所述光学模块供电,并通过所述光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光; 控制所述测温装置对通光的待测光栅进行测温,并获取所述测温装置的测试温度、所述目标光的输出功率和所述水冷系统的冷却液参数; 根据所述测试温度、所述输出功率和所述冷却液参数确定所述待测光栅的温升系数。
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