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龙图腾网获悉中电科思仪科技股份有限公司申请的专利一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116183973B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211700778.4，技术领域涉及：G01R1/04；该发明授权一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法是由郭敏;王亚海;徐宝令;朱学波;郑洪义;阎涛;王阳;王兆灿;王尊峰设计研发完成，并于2022-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法，评估电路包括主控计算机、自动化辅助设备、矢量网络分析仪、测试夹具A、测试夹具B和标准微波集成电路；本发明可以满足待测微波集成电路散射参数“即测即得”的快速高效和稳定一致的测试应用需求，并有效降低由于大量定制适配测试夹具的校准件及其相应操作复杂和大运算量的校准与误差修正等所引入的成本、时间、仪器资源方面的资源无效占用，提高测试应用效能；降低测试评估过程中的软硬件资源开销和占用，而且方便将该功能整合融入微波集成电路生产制造的产线综合能力判断中，满足微波集成电路低成本、高效能批量生产制造应用需求和集成测控的技术要求。

本发明授权一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法在权利要求书中公布了：1.一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路，其特征在于，包括主控计算机、自动化辅助设备、矢量网络分析仪、测试夹具A、测试夹具B和标准微波集成电路； 所述测试夹具A和测试夹具B以组合的方式形成适配单元，分别实现与标准微波集成电路和待测微波集成电路的适配连接，所述测试夹具A和测试夹具B与矢量网络分析仪连接的端面为校准端面，与标准微波集成电路和待测微波集成电路连接的端面为测试端面； 所述矢量网络分析仪用于在校准端面进行相应的校准，在测试端面完成在此状态下对标准微波集成电路和待测微波集成电路的散射参数测试和数据获取； 所述标准微波集成电路与待测微波集成电路型号相同但散射参数已知，为测试评估电路提供散射参数标准数据，并为消除电路自身系统误差和迭代优化获得测试评估的阈值限提供支撑； 所述自动化辅助设备为标准微波集成电路和待测微波集成电路提供夹持与装载，以满足量产产线的快速高效的测试应用需求； 所述主控计算机，内含软件，是电路的核心和控制中心，根据产线量产应用的测试评估需求，对矢量网络分析仪、适配单元、自动化辅助设备进行一体协同控制，在测试评估前通过测试以及导入标准微波集成电路的标准数据进行计算以消除电路自身系统误差，并迭代优化获得测试评估的阈值限，以在产线量产应用的测试评估时满足待测微波集成电路散射参数的快速获得需求。

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