中国科学院长春光学精密机械与物理研究所张航获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种长波红外探测器的焦平面暗背景校正方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116222795B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310064100.X，技术领域涉及：G01J5/53；该发明授权一种长波红外探测器的焦平面暗背景校正方法及系统是由张航;李帅;郑玉权设计研发完成，并于2023-01-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种长波红外探测器的焦平面暗背景校正方法及系统在说明书摘要公布了：本申请提供的长波红外探测器的焦平面暗背景校正方法及系统，测量成像系统中不同要素的温度；获取每个像元的真实暗背景；将所述不同要素的温度作为变量，对每个像元的真实暗背景进行多项式拟合，为每个像元建立拟合多项式；真实成像中，实时测量不同要素温度，并代入每个像元的拟合多项式，得到每个像元的暗背景估算值；定义暗背景校正的理论极限，定量评价校正效果；将所述暗背景估算值从原始图像中扣除，即可实现长波红外成像系统的暗背景校正，上述校正方法及系统，针对长波红外谱段，提出暗背景校正的理论极限和衡量指标，可以定量化的评价校正效果，提高校正的准确性。同时可以针对不同工况，增加校正拟合的变量，提高本方法的适应性。
本发明授权一种长波红外探测器的焦平面暗背景校正方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种长波红外探测器的焦平面暗背景校正方法，其特征在于，包括下述步骤： 测量成像系统中不同要素的温度； 获取每个像元的真实暗背景； 将所述不同要素的温度作为变量，所述不同要素的温度包括焦平面温度、光机主体温度以及电箱温度，对每个像元的真实暗背景进行多项式拟合，为每个像元建立拟合多项式； 真实成像中，实时测量不同要素温度，并代入每个像元的拟合多项式，得到每个像元的暗背景估算值； 定义暗背景校正的理论极限，定量评价校正效果，具体包括：对真实的暗背景进行滑动平均，得到暗背景参考；将真实的暗背景与暗背景参考作差，以消除由于不同要素温度引起的暗背景波动，差值结果定义为噪声限； 将所述暗背景估算值从原始图像中扣除，即可实现长波红外成像系统的暗背景校正。
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