杭州加速科技有限公司凌云获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州加速科技有限公司申请的专利光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116298804B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310315017.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统是由凌云;邬钢设计研发完成，并于2023-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统在说明书摘要公布了：本发明提出了一种光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统。方法包括：获取在预设可测电压范围内光源电压参数与光源亮度之间的线性关系；基于预设规则选取准电压参数，获取在准电压参数下的光源亮度的测量值和理论值以得到每个准电压参数对应的变化量，判断每个变化量是否符合预设精度要求；将符合预设精度要求的准电压参数作为校准光源参数，基于校准光源参数构建相应的光源以参与光学芯片的测试。本发明基于梯度下降算法的思想，兼顾稳定性和高效性，无论在任何精度要求环境下，光源校准都能在短时间内完成，校准次数少，校准效率高，精准高效地实现光源校准，进而提升芯片测试效率。
本发明授权光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统在权利要求书中公布了：1.一种光学芯片测试的光源校准方法，其特征在于，适用于须光源参与的芯片测试，所述光源校准方法包括如下： 获取在预设可测电压范围内光源电压参数与光源亮度之间的线性关系，光源亮度随着光源电压参数的增大而增大，且随着光源电压参数的增大，光源亮度的测量值与理论值趋向一致； 在预设可测电压范围内基于预设规则选取准电压参数，获取在准电压参数下的光源亮度的测量值和理论值以得到每个准电压参数对应的变化量，判断每个变化量是否符合预设精度要求： 若否，则在当前准电压参数的基础上延展该变化量得到下一个准电压参数，继续判断对应的变化量，直到变化量符合预设精度要求； 将符合预设精度要求的准电压参数作为校准光源参数，基于校准光源参数构建相应的光源以参与光学芯片的测试； 其中，所述变化量为在该准电压参数下、光源亮度的测量值和理论值之差在光源亮度的最大测量值和最小测量值之差中所占的比例。
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