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龙图腾网获悉深圳市大能创智半导体有限公司申请的专利一种测试方法、装置及其电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116329138B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310133027.7，技术领域涉及：B07C5/344；该发明授权一种测试方法、装置及其电子设备是由谢斌;李思琦;陈卫东设计研发完成，并于2023-02-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测试方法、装置及其电子设备在说明书摘要公布了：本发明实施方式公开了一种测试方法，应用于自动测试设备，该测试方法包括：配置夹具的ID以及相应测试项目，使得通过读取夹具的ID，以加载与ID相应的测试项目配置；根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值；将第一判断值和第二判断值分别设置为自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值；使自动测试设备根据测试项目配置对待测试产品进行测试，以获得相应测试数据。通过上述方式，本发明实施方式能够自动配置测试范围、自动加载测试项目，进而提高自动测试设备的测试效率。并且还能对不良品进行自动测试分类，在提高了测试效率的同时避免了人工测试结果出错的情况。

本发明授权一种测试方法、装置及其电子设备在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，应用于自动测试设备，其特征在于，包括： 配置夹具的ID以及相应测试项目，使得通过读取夹具的ID，以加载与所述ID相应的测试项目配置； 根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值； 将所述第一判断值和所述第二判断值分别设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值； 使所述自动测试设备根据所述测试项目配置对待测试产品进行测试，以获得相应测试数据； 根据所述相应测试数据判断不良品，统计不良品中相应测试项目的项目不良品的数量以及占比，获得统计数据； 根据所述统计数据，通过机器学习生成故障分析模型； 将不良品的测试数据输入所述故障分析模型，以判断所述不良品的故障原因和严重程度，并给出相应的维修建议； 所述根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值，包括： 录入所述参考样品的各个测试项目的相应测试数据； 分别计算相应测试数据的第一中心值和标准差； 将所述第一中心值减去3倍标准差获得第一筛选值； 将所述第一中心值加上3倍标准差获得第二筛选值； 剔除所述测试数据中小于所述第一筛选值的数据和大于所述第二筛选值的数据； 计算剩余测试数据的第二中心值、最小值和最大值； 根据下式计算第一绝对值： X1＝|XM-Xmin-σ|， 其中，X1为所述第一绝对值，XM为所述第二中心值，Xmin为所述最小值，σ为所述标准差； 根据下式计算第二绝对值： X2＝|Xmax+σ-XM|， 其中，X2为所述第二绝对值，Xmax为所述最大值； 计算所述第一绝对值和所述第二绝对值中的最大值，获得误差值； 将所述第二中心值减去所述误差值，获得所述第一判断值； 将所述第二中心值加上所述误差值，获得所述第二判断值。

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