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龙图腾网获悉西安西电光电缆有限责任公司;中国西电集团有限公司申请的专利一种电容耦合测试仪校验装置及其校验方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117554876B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311368894.5，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权一种电容耦合测试仪校验装置及其校验方法是由第五俊峰;刘春喜;孙芳婷;曹潘;王兴文设计研发完成，并于2023-10-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电容耦合测试仪校验装置及其校验方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电容耦合测试仪校验装置及其校验方法，属于电容耦合测试技术领域，包括端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子；高值电容器C1和高值电容器C2；低值电容器C3、低值电容器C4和低值电容器C5。高值电容器C1连接到端子1与端子2之间，高值电容器C2连接到端子3与端子4之间；低值电容C3连接到端子2与端子3之间；低值电容C4连接到端子1与接地端子之间，低值电容C5连接到端子4与接地端子之间。各端子一次性连接到被校仪器相应端口，只需切换测量档位读数，大幅简化操作步骤，缩短校验时间，可反映测试结果的正负对称性，反映测量线路在实际负载下的示值情况，可随时对测量仪器的结果进行校验。

本发明授权一种电容耦合测试仪校验装置及其校验方法在权利要求书中公布了：1.一种电容耦合测试仪校验装置的校验方法，其特征在于，包括电容耦合测试仪校验装置，具体包括： 高值电容器C1连接在端子1与端子2之间，高值电容器C2连接在端子3与端子4之间；低值电容器C3连接在端子2与端子3之间；低值电容器C4连接在端子1与接地端子之间，低值电容器C5连接在端子4与接地端子之间； 所述高值电容器C1由n1个10nF的标准电容器并联连接，n1=1~10； 高值电容器C2由n2个10nF的标准电容器并联连接，n2=1~10； 低值电容器C3由n3个100pF的标准电容器并联连接，n3=1~10； 低值电容器C4由n4个100pF的标准电容器并联连接，n4=1~10； 低值电容器C5由n5个100pF的标准电容器并联连接，n5=1~10； 校验方法，具体包括： 将电容耦合测试仪校验装置的端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子分别与待校验仪器的端口a、端口b、端口c、端口d和端口地依次进行正序连接； 1选择C1测量档，读取待校验仪器示值作为C1校验值；此时校验装置标称值为： +n1×10nF； 2选择C2测量档，读取待校验仪器示值作为C2校验值；此时校验装置标称值为 +n2×10nF； 3选择k1测量档，读取待校验仪器示值作为k1校验值；此时校验装置标称值为 +n3×100pF； 4选择e1测量档，读取待校验仪器示值作为e1校验值；此时校验装置标称值为 +n4×100pF； 5选择e2测量档，读取待校验仪器示值作为e2校验值；此时校验装置标称值为 -n5×100pF； 将各个校验值与电容耦合测试仪校验装置电容值进行比较，判定是否符合要求； 还包括：将电容耦合测试仪校验装置的端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子分别与仪器端口d、端口c、端口b、端口a和端口地依次进行逆序连接； 1选择C1测量档，读取待校验仪器示值作为C1校验值；此时校验装置标称值为 +n2×10nF； 2选择C2测量档，读取待校验仪器示值作为C2校验值；此时校验装置标称值为 +n1×10nF； 3选择k1测量档，读取待校验仪器示值作为k1校验值；此时校验装置标称值为 +n3×100pF； 4选择e1测量档，读取待校验仪器示值作为e1校验值；此时校验装置标称值为 -n5×100pF； 5选择e2测量档，读取待校验仪器示值作为e2校验值；此时校验装置标称值为 +n4×100pF； 将各个校验值与电容耦合测试仪校验装置电容值进行比较，判定是否符合要求。

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