买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国科学院近代物理研究所申请的专利一种用于带电粒子探测的多维度测量像素结构及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119535524B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411528594.3，技术领域涉及：G01T1/24；该发明授权一种用于带电粒子探测的多维度测量像素结构及方法是由赵承心;何芮;牛晓阳;杨海波;韩维佳;张洪林设计研发完成，并于2024-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于带电粒子探测的多维度测量像素结构及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及带电粒子探测领域，公开了一种用于带电粒子探测的多维度测量像素结构及方法，其包括：多个像素单元，每个像素单元都包括电荷搜集单元，搜集电荷获取待识别信号；电荷灵敏前置放大单元将接收的待识别信号进行放大得到待识别信号的放大信号；能量测量单元将接收到的放大信号处理后得到待识别电荷信号的幅值信息；鉴别单元将接收到的放大信号处理后得到快慢到达时间鉴别信号，并传输至外围共用单元的综合标识单元，进行综合处理后得到总到达时间鉴别信号和待识别电荷信号的标识信息；时间测量单元，用于将接收到的总到达时间鉴别信号进行处理，得到待识别电荷信号的粗细到达时间信息。本发明实现了时间、能量和位置多维度的测量功能。

本发明授权一种用于带电粒子探测的多维度测量像素结构及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于带电粒子探测的多维度测量像素结构，其特征在于，包括：多个像素单元和外围共用单元，每个像素单元都能测量带电粒子击中位置、沉积能量和入射时间，多个像素单元都连接至外围共用单元，将测量到的带电粒子击中位置、沉积能量和入射时间传输至外围共用单元中处理后，输出待识别电荷信号的到达时间信息； 其中，每个像素单元都包括： 电荷搜集单元，用于搜集电荷，获取待识别信号； 电荷灵敏前置放大单元，用于将接收的待识别信号进行放大，得到待识别信号的放大信号； 能量测量单元，用于将接收到的放大信号处理后得到待识别电荷信号的幅值信息； 鉴别单元，用于将接收到的放大信号处理后得到待识别电荷信号的快慢到达时间鉴别信号，并传输至外围共用单元； 外围共用单元包括综合标识单元和时间测量单元；其中： 综合标识单元，用于接收多个鉴别单元传输至的多个快慢到达时间鉴别信号，进行综合处理后得到总到达时间鉴别信号和待识别电荷信号的标识信息； 时间测量单元，用于将接收到的总到达时间鉴别信号进行处理，得到待识别电荷信号的粗细到达时间信息； 综合标识单元包括多输入或门电路和数字缓冲器； 用于接收多个像素单元的快到达时间鉴别信号的多输入或门电路输出总到达时间鉴别信号，并传输至时间测量单元； 用于接收慢到达时间鉴别信号的多输入或门电路，通过数字缓冲器输出带电粒子的标识信息。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院近代物理研究所，其通讯地址为：730013 甘肃省兰州市城关区南昌路509号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。