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龙图腾网获悉江苏大学申请的专利一种基于调频式红外热成像检测复合材料内部缺陷深度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119827576B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411693506.5，技术领域涉及：G01N25/72；该发明授权一种基于调频式红外热成像检测复合材料内部缺陷深度的方法是由卓立军;徐逸凡;朱建国;王自平;易法军设计研发完成，并于2024-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于调频式红外热成像检测复合材料内部缺陷深度的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于调频式红外热成像检测复合材料内部缺陷深度的方法，所述方法包括如下步骤：步骤1：制备标定试件；步骤2：获得标定试件表面温度响应交流分量；步骤3：根据热图像序列确定相位差关于频率的变化曲线；步骤4：建立敏感频率与缺陷深度的关系；步骤5：根据敏感频率测量值评估缺陷深度。该方法通过红外热波雷达技术获得材料表面温度图像，并提取温度相位，从而避免材料表面加热不均和发射率不均对测试结果的影响，进一步从温度相位中提取敏感频率对缺陷深度进行检测。本发明用于检测缺陷深度的敏感频率比传统的盲频率更容易准确获取，且检测范围也比延迟时间和互相关相位更大，具有测量精度高、检测范围广的特点。

本发明授权一种基于调频式红外热成像检测复合材料内部缺陷深度的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于调频式红外热成像检测复合材料内部缺陷深度的方法，其特征在于所述方法包括如下步骤： 步骤1：制备标定试件； 步骤2：获得标定试件表面温度响应交流分量： 步骤21：在标定试件表面施加调频式热激励： 1 式中，为激励的热流值，为热流幅值，f为频率； 步骤22：在标定试件受到如式1所示的激励后，待其冷却至初始温度，再加载以下具有相反相位的热激励波形： 2 步骤23：若在式1和2所示的热激励下，标定试件表面某点处的温度分别为和，则该点的交流分量为： 3 步骤3：根据热图像序列确定相位差关于频率的变化曲线： 步骤31：将步骤2计算的温度交流分量分别代入式4和5，得到特定频率下的同相相关函数和正交相关函数： 4 5 式中，N为热图像总帧数，，和分别是起始频率和终止频率，和分别表示同相参考信号和正交参考信号； 步骤32：采用同相相关函数和正交相关函数计算交流分量的相位： 6 步骤33：分别提取缺陷区和参考区内若干个像素点的温度交流分量，按照步骤31~步骤32计算对应的相位值，计算相位差： 7 式中，为相位差，和分别为根据缺陷区和参考区像素点计算的相位值； 步骤34：按照步骤31~步骤33对标定试件表面每个缺陷区的温度数据进行处理，得到不同尺寸、不同深度缺陷对应的相位差关于频率的变化曲线； 步骤35：采用Loess公式对相位差关于频率的变化曲线进行平滑处理； 步骤4：建立敏感频率与缺陷深度的关系： 步骤41：定义相位差最大值对应的频率为敏感频率，记为，敏感频率与缺陷深度满足以下关系： 8 式中，和均为待定系数，D为缺陷尺寸，H为缺陷深度； 步骤42：根据标定试件表面每个缺陷区相对于参考区的相位差变化曲线，求出对应的敏感频率； 步骤43：根据缺陷的敏感频率、尺寸D和深度H，绘制和的拟合曲线，确定系数和； 步骤5：根据敏感频率测量值评估缺陷深度： 步骤51：对待测试件施加与标定试件相同的热激励，按照步骤2，分别提取待测试件缺陷区的温度交流分量，并按照步骤3，根据温度交流分量获得相位差关于频率的变化曲线，确定待测试件缺陷区的敏感频率； 步骤52：将敏感频率和缺陷尺寸代入式8，计算缺陷深度。

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