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龙图腾网获悉西北工业大学申请的专利一种FPGA单粒子翻转检测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119830830B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411878902.5，技术领域涉及：G06F30/34；该发明授权一种FPGA单粒子翻转检测系统及方法是由沈木深;孙瑞廷;陈雷;周巍;孙华波;张帆;刘怀锋;刘映光;卢江天设计研发完成，并于2024-12-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种FPGA单粒子翻转检测系统及方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种FPGA单粒子翻转检测系统及方法，涉及FPGA测试领域，该系统包括：上位机、测试底板和测试子板；测试子板包括待测FPGA；测试底板将上位机发送的原始码流文件配置到待测FPGA上，并逐次增加相同的注量对待测FPGA进行多个测试周期的单粒子辐照的试验，回读每次测试周期的回读码流文件；上位机将当前次测试周期的回读码流文件与上次测试周期的回读码流文件进行比对，确定当前次测试周期中单粒子翻转的发生位置，并对每个发生位置的单粒子翻转数进行累加，得到当前测试周期的总注量下的总单粒子翻转数。本发明解决了无法检测单粒子翻转发生位置以及无法检测同一个电路单元单粒子翻转多次情况的问题。

本发明授权一种FPGA单粒子翻转检测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种FPGA单粒子翻转检测系统，其特征在于，所述FPGA单粒子翻转检测系统包括：上位机、测试底板和测试子板；所述测试子板包括：待测FPGA；所述上位机与所述测试底板连接；所述测试底板与所述待测FPGA连接； 所述上位机用于： 将原始码流文件发送至所述测试底板； 所述测试底板用于： 将所述原始码流文件配置到所述待测FPGA上； 在单粒子翻转试验下，回读每次测试周期所述待测FPGA的码流文件，得到每次测试周期的回读码流文件；所述单粒子翻转试验为从第一次测试周期到最后一次测试周期逐次增加相同的注量对所述待测FPGA进行单粒子辐照的试验；最后一次测试周期的总注量达到额定总注量； 将每次测试周期的回读码流文件发送至所述上位机； 所述上位机还用于： 将当前次测试周期的回读码流文件与上次测试周期的回读码流文件进行比对，确定当前次测试周期中单粒子翻转的发生位置，并对每个发生位置的单粒子翻转数进行累加，得到当前测试周期的总注量下的总单粒子翻转数。

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