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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利基于磁纳米粒子磁滞效应的温度成像方法、系统及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115153489B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210806744.7，技术领域涉及：A61B5/0515；该发明授权基于磁纳米粒子磁滞效应的温度成像方法、系统及设备是由田捷;李怡濛;安羽;钟景;何杰设计研发完成，并于2022-07-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于磁纳米粒子磁滞效应的温度成像方法、系统及设备在说明书摘要公布了：本发明属于磁纳米粒子成像领域，具体涉及了一种基于磁纳米粒子磁滞效应的温度成像方法、系统及设备，旨在解决现有技术中MPI无法实现实时精准的温度成像的问题。本发明包括：获取不同温度下的标准浓度磁纳米粒子的磁化曲线；进行参数识别获取矫顽系数k与温度T的映射关系；获取待成像物的磁化曲线序列；进行参数识别获取磁化曲线序列对应的矫顽系数k序列，结合矫顽系数k与温度T的映射关系获取矫顽系数k序列对应的温度T序列；沿磁场自由点运动轨迹将所述温度T序列排布成二维图像，获得待成像物的磁粒子成像的温度图像。本发明实现实时精准的温度成像，推动MPI与磁热疗的结合，通过精准的温度监测，提升磁热疗诊疗的效果。

本发明授权基于磁纳米粒子磁滞效应的温度成像方法、系统及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于磁纳米粒子磁滞效应的温度成像方法，其特征在于，所述温度成像方法包括： 步骤S10，将标准浓度1mgml的磁纳米粒子加热至不同温度，获得不同温度下的磁纳米粒子的磁化曲线； 步骤S20，针对任一温度下的磁纳米粒子的磁化曲线，构建矫顽系数参数识别方法，并进行参数识别获取矫顽系数与温度的映射关系： 步骤S21，针对任一温度下的磁纳米粒子的磁化曲线，构建矫顽系数参数识别方法； 步骤S22，将矫顽系数的初始值设为； 步骤S23，通过最小二乘法进行矫顽系数参数识别方法的目标函数优化，获得当前温度下的矫顽系数； 步骤S24，遍历每一个温度，获得矫顽系数与温度的映射关系； 步骤S30，获取待成像物的磁粒子成像扫描中沿磁场自由点运动轨迹的磁化曲线序列； 步骤S40，针对每一个磁场自由点对应的磁化曲线，通过步骤S20对应的方法，获得磁化曲线序列对应的矫顽系数序列，并基于所述矫顽系数与温度的映射关系，获取所述矫顽系数序列对应的温度序列； 步骤S50，沿磁场自由点运动轨迹将所述温度序列排布成二维图像，获得待成像物的磁粒子成像的温度图像； 所述矫顽系数参数识别方法的目标函数为： ； 其中，为矫顽系数参数识别方法的目标函数，为实测的磁化矢量曲线，矫顽系数参数识别方法中模型计算的磁化矢量曲线，为外加磁场的强度，为磁化函数。

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