瑞昱半导体股份有限公司蔡涵昀获国家专利权
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龙图腾网获悉瑞昱半导体股份有限公司申请的专利电子系统测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116106654B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111334735.4，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电子系统测试方法是由蔡涵昀;王世宏;吴亭莹设计研发完成，并于2021-11-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本电子系统测试方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统，包含：a依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形；b得到与该步骤a相对应的一结果波形；c改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤a与该步骤b多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级。
本发明授权电子系统测试方法在权利要求书中公布了：1.一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统，其特征在于，包含： a依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形； b得到与该步骤a相对应的一结果波形； c改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤a与该步骤b多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级； 其中该主测试波形为一X位波形且该副测试波形为一Y位波形，X与Y为大于或等于3的正整数。
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