温岭热刺激光器科技有限公司马进获国家专利权
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龙图腾网获悉温岭热刺激光器科技有限公司申请的专利一种芯片质量的检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116167988B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310097029.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种芯片质量的检测方法、装置、电子设备及存储介质是由马进;任杰;刘江;徐海军设计研发完成，并于2023-01-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片质量的检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种芯片质量的检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：根据中点位置信息、巴条对应的边缘线方程，确定基板对应检测边缘线的中点到巴条对应检测边缘线的距离，得到待检测芯片的突出距离；根据所有边缘线方程的斜率，确定检测边缘线之间的相对角度；统计待检测芯片图像中与基板的颜色不同的像素点个数；将突出距离、相对角度和像素点个数输入到芯片检测模型中，得到待检测芯片的质量检测结果；芯片检测模型是通过样本芯片的突出距离、相对角度和像素点，以及对应的质量检测结果训练得到的。通过本申请的方式，能够确定待检测芯片的质量，提高了确定芯片质量的准确率和效率。
本发明授权一种芯片质量的检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片质量的检测方法，其特征在于，所述芯片质量的检测方法包括： 获取待检测芯片图像中的基板和巴条分别对应检测边缘线的边缘线方程，及所述基板对应检测边缘线的中点位置信息；所述检测边缘线是与所述待检测芯片图像中的基准线垂直的边缘线中任一侧边缘线； 根据所述中点位置信息、所述巴条对应的边缘线方程，确定所述基板对应检测边缘线的中点到所述巴条对应检测边缘线的距离，得到待检测芯片的突出距离； 根据所有边缘线方程的斜率，确定所述检测边缘线之间的相对角度； 统计所述待检测芯片图像中与所述基板的颜色不同的像素点个数； 将所述突出距离、所述相对角度和所述像素点个数输入到芯片检测模型中，得到所述待检测芯片的质量检测结果；所述芯片检测模型是通过样本芯片的突出距离、相对角度和像素点，以及对应的质量检测结果训练得到的。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人温岭热刺激光器科技有限公司，其通讯地址为：317500 浙江省台州市温岭市东部新区金塘北路2号中小企业孵化园B区2号科研厂房二楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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