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龙图腾网获悉宁波钢铁有限公司申请的专利一种光学元件缺陷检测方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116593467B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310374297.7，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种光学元件缺陷检测方法、装置及存储介质是由吴洪义;张玉龙;叶锦平;陈晓光;张涛;孙胜利;金庆凯;吴海洋设计研发完成，并于2023-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学元件缺陷检测方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种光学元件缺陷检测方法、装置及存储介质，涉及光学元件缺陷检测技术领域。所述方法包括：获取待测元件的初始荧光强度数据，并对初始荧光强度数据进行去噪处理，得到第一荧光强度数据；获取仪器响应函数，并根据仪器响应函数和第一荧光强度数据，获取第二荧光强度数据；将所述第二荧光强度数据，输入荧光指数衰减模型，采取非线性拟合方法，并对所述非线性拟合方法进行算法优化，获取荧光强度值；根据荧光强度值，获取荧光强度图像，并对荧光强度图像进行数字图像处理，从荧光强度图像中提取缺陷信息。本发明通过高精度荧光强度成像，从图像中提取出缺陷信息，实现对光学元件表面缺陷的检测。

本发明授权一种光学元件缺陷检测方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种光学元件缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取待测元件的初始荧光强度数据，并对所述初始荧光强度数据进行去噪处理，得到第一荧光强度数据； 获取仪器响应函数，并根据所述仪器响应函数和所述第一荧光强度数据，获取第二荧光强度数据； 将所述第二荧光强度数据，输入荧光指数衰减模型，采取非线性拟合方法，并对所述非线性拟合方法进行算法优化，获取荧光强度值； 根据所述荧光强度值，获取荧光强度图像，并对所述荧光强度图像进行数字图像处理，从所述荧光强度图像中提取缺陷信息； 其中，所述仪器响应函数为： ； 其中，Gt为所述仪器响应函数，为仪器响应函数的期望，为方差，t为时间； 所述根据所述仪器响应函数和所述第一荧光强度数据，获取第二荧光强度数据，包括： 将所述仪器响应函数形成的荧光信号从所述第一荧光强度数据中移除，并将荧光信号达到最大值的时刻作为所述第一荧光强度数据的起始点； 假设所述第二荧光强度数据为，所述将所述第二荧光强度数据，输入荧光指数衰减模型，采取非线性拟合方法： 估计参数待定的函数模型，所述函数模型为： ； 获取第个数据的误差距离，所述误差距离为： ； 获取所有数据点误差距离的平方和S，所述所有数据点误差距离的平方和为： ； 获取与所述所有数据点误差距离的平方和的最小值对应的目标函数模型，所述目标函数模型为所述荧光指数衰减模型。

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