中国科学院新疆理化技术研究所张兴尧获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院新疆理化技术研究所申请的专利一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116735981B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310502367.2，技术领域涉及：G01R29/08；该发明授权一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法是由张兴尧;郭旗;李豫东;崔江维;文林;孙静;冯婕设计研发完成，并于2023-05-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法，用于解决现有的辐射效应原位测试系统无法实现对数字集成电路的性能和功能进行全面测试的技术问题。测试系统包括驱动单元、采集单元及分析单元；采集单元包括SMU测试模块和至少一个数字向量测试模块，SMU测试模块用于为待测数字集成电路供电并采集待测数字集成电路的功耗电流；数字向量测试模块用于为待测数字集成电路输入电信号激励，并采集待测数字集成电路输出的电平信号；分析单元用于接收SMU测试模块和每个数字向量测试模块采集到的信息，并对其进行处理。
本发明授权一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种数字集成电路辐射效应原位测试系统，其特征在于： 包括驱动单元1、采集单元2及分析单元3；所述采集单元2包括SMU测试模块4和至少一个数字向量测试模块5； 所述SMU测试模块4的输入端和每个数字向量测试模块5的输入端分别与驱动单元1连接； 所述SMU测试模块4和每个数字向量测试模块5分别用于与待测数字集成电路6连接，待测数字集成电路6位于辐射场内； 所述SMU测试模块4用于为待测数字集成电路6供电并采集待测数字集成电路6的功耗电流；所述数字向量测试模块5用于为待测数字集成电路6输入测试向量，并采集待测数字集成电路6输出的电平信号； 所述分析单元3分别与SMU测试模块4的输出端和每个数字向量测试模块5的输出端连接，用于接收SMU测试模块4和每个数字向量测试模块5采集到的信息，并对其进行处理。
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