电子科技大学黄烨轩获国家专利权
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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种基于特征空间投影的对抗攻击检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118070044B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410317161.7,技术领域涉及:G06F18/213;该发明授权一种基于特征空间投影的对抗攻击检测方法是由黄烨轩;林静然;邵怀宗;潘晔;利强;胡全设计研发完成,并于2024-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于特征空间投影的对抗攻击检测方法在说明书摘要公布了:本发明提出一种基于特征空间投影的对抗攻击检测方法,通过对神经网络多个中间层得到的特征空间进行分解,得到网络各个中间层的特征子空间和对抗子空间,通过计算样本对两个子空间投影长度之比作为检测量,得到包含连续多个中间层的检测量曲线。通过与正常样本的检测量均值曲线的幅值和变化趋势对比计算,能够有效地检测出对抗样本,只需要有正常的样本即可成功的建立检测模型,不需要生成特定的对抗样本进行训练,解决了基于样本的空间分布检测时的准确率低的缺陷,在检测对抗攻击时候,不需要多步迭代,复杂度低,耗时大大减少。
本发明授权一种基于特征空间投影的对抗攻击检测方法在权利要求书中公布了:1.一种基于特征空间投影的对抗攻击检测方法,其特征在于,检测步骤包括: 将通信辐射源发射出的信号进行采集并存储为时域信号,再对时域信号进行能量检测,同时以仿真噪声信号作能量检测的阈值,通过阈值筛选则认为是有效信号,保留该时域信号作为待检测样本输入电磁目标识别模型,利用电磁目标识别模型中的K个中间层输出待检测样本的K个中间层的特征向量;K小于等于电磁目标识别模型的中间层总数;所述电磁目标识别模型为完成训练的深度神经网络; 将待检测样本的K个中间层的特征向分别量在正常样本子空间和对抗子空间上投影长度的比值作为待检测样本的检测量,合并K个检测量得到待检测样本的检测量曲线向量; 对于待检测样本的K个中间层,计算第K个检测量与前K-1个检测量的斜率得到待检测样本的K-1个斜率,将所述K-1个斜率与预设的斜率检测门限一一对应进行比较,如果K-1个斜率中有两个或两个以上小于斜率检测门限,则判断该待检测样本为对抗样本,检测出对抗攻击,否则进入下一步判断; 判断所述待检测样本的K个中间层的特征向分别量在正常样本子空间和对抗子空间上投影长度的比值是否大于第K个中间层中的平均检测量,如是,则判断该待检测样本为正常样本,否则再计算所述待检测样本的检测量曲线与平均检测量曲线向量的相似度,若相似度大于预设的相似度检测门限,则判断该待检测样本为对抗样本,若相似度小于等于预设的相似度检测门限,则判断该待检测样本为正常样本。
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