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龙图腾网获悉中北大学申请的专利基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118505831B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410493895.0，技术领域涉及：G06T11/00；该发明授权基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法是由魏交统;吴泱序;王苏恺;赵晓杰;陈平;刘宾;孔慧华设计研发完成，并于2024-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法，包括采集单个电压下CT扫描的X射线投影图像，并除以其背景值，获取X射线成像模型，并将其写成矩阵形式；根据X射线成像模型的矩阵形式得到X射线投影图像分解模型；在投影图像分解模型中加入积分不变性等式，约束单电压下投影分解获取的窄能谱投影，实现单电压下CT图像硬化伪影校正；本发明针对常规CT系统单一电压下成像情形，能够实现硬化伪影校正。

本发明授权基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法在权利要求书中公布了：1.一种基于积分不变性的单电压下CT图像硬化伪影校正方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、采集单个电压下CT扫描的X射线投影图像，并除以其背景值，获取X射线成像模型，并将其写成矩阵形式； 所述步骤1具体如下： X射线管发出的是连续能谱X射线，成像模型写成： I＝I0∫SEexp[-∫Lux,Edx]dE 其中：I0表示射线初始强度，I是射线衰减后强度，分别以实际成像中的背景灰度和图像灰度等效，L表示X射线穿过的路径，ux，E表示路径L上x处，能量为E的射线的衰减系数，SE表示归一化的等效能谱，满足： 1＝∫SEdE 对成像模型离散变为求和，等式两边同除以I0： 其中：Er为第r个窄能谱段能量，SEr为第r个窄能谱图像的加权系数，K为物体中材料种类，urk为第k种材料在Er的衰减系数，dk为X射线穿过路径上第k种材料的长度；其中，SEr满足： 假设第j个扫描角度下X射线投影像素数为Mjj＝1，2，……，J，将所有扫描角度下投影图像像素数之和记为M，则： 将X射线投影图像的第m个像素对应的II0记为fm，m＝1,2,…,M；则X射线成像模型写成矩阵形式为： F＝Sexp-UD 其中：F＝f1,f2,……,fM，S是构成各电压X射线图像的窄能谱图像加权系数，即sr＝SEr，U的一列对应一材料在各窄谱段的衰减系数，D的相应行是同种材料在各像素上的衰减长度； 步骤2、根据X射线成像模型的矩阵形式得到X射线投影图像分解模型； 步骤3、在投影图像分解模型中加入积分不变性等式，约束单电压下投影分解获取的窄能谱投影，实现单电压下CT图像硬化伪影校正； 在步骤3中的积分不变性等式如下：

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