武汉高德智感科技有限公司黄晟获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉高德智感科技有限公司申请的专利一种基于导数域响应率修正的非均匀性校正方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119104160B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411461049.7,技术领域涉及:G01J5/53;该发明授权一种基于导数域响应率修正的非均匀性校正方法是由黄晟;刘坤设计研发完成,并于2024-10-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于导数域响应率修正的非均匀性校正方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于导数域响应率修正的非均匀性校正方法,其包括如下步骤:设置温度不同的黑体;通过红外成像设备获取每一黑体的图像,并采集获取每一黑体图像时,红外探测器对当前黑体温度的响应;基于对当前黑体温度的响应,拟合获得每一像元对不同黑体温度的响应曲线函数,并对应获得每一像元在任意温度下的响应率;对每一像元的响应率进行修正;对红外图像进行非均匀性校正,并输出校正后的红外图像。本发明可基于像元对不同辐射量的响应为非线性关系的理论基础,在导数域精确的描述每个像元的响应率,并进一步对每一像元的响应率进行非均匀性修正,以获得更为准确的非线性响应曲线以及校正后的红外图像,由此降低红外图像的噪声,提高测温结果精度。
本发明授权一种基于导数域响应率修正的非均匀性校正方法在权利要求书中公布了:1.一种基于导数域响应率修正的非均匀性校正方法,其特征在于,包括如下步骤: 设置N个温度不同的黑体; 通过红外成像设备获取每一黑体的图像,并采集获取每一黑体图像时,红外成像设备的红外探测器对当前黑体温度的响应; 基于红外探测器对当前黑体温度的响应,拟合获得每一像元对不同黑体温度的响应曲线函数fT;P,并对每一像元的响应曲线函数fT;P求导,以对应获得每一像元在任意温度下的响应率f′T;P; 对每一像元的响应率f′T;P进行修正,使得每一像元的响应率f′T;P均与预设响应率相同,记录修正过程中,每一像元的响应率修正参数集Q; 对红外图像进行非均匀性校正,并输出校正后的红外图像; 所述响应曲线函数fT;P为基于拟合获得的二次多项式曲线,其表达式如公式1所示: fT;P=p1×T2+p2×T+p31 其中,T为黑体温度;P为当前像元对不同黑体温度的响应曲线参数集;p1、p2、p3均为响应曲线参数集中的参数; 对红外图像进行非均匀性校正,并输出校正后的红外图像,其具体包括如下步骤: 通过红外成像设备获取当前目标的红外图像,并获取每个像元的当前响应率; 根据每一像元的当前响应率反算出目标温度T; 根据每一像元的响应率修正参数集Q对应对当前像元的当前响应率进行修正,以获得每一像元非均匀性修正后的非线性响应曲线,并输出校正后的红外图像。
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