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龙图腾网获悉深圳市元亨光电股份有限公司申请的专利应用LED显示屏加工的GOB工艺质量评估系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119294678B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411485800.7，技术领域涉及：G06Q10/063；该发明授权应用LED显示屏加工的GOB工艺质量评估系统是由朱海涛;莫奇峰;李科言设计研发完成，并于2024-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本应用LED显示屏加工的GOB工艺质量评估系统在说明书摘要公布了：应用LED显示屏加工的GOB工艺质量评估系统，涉及GOB工艺质量评估技术领域，获取当前GOB工艺流程信息，根据所述流程信息设置边缘监测节点，获取各个流程子序列的若干质量监测指标的测试数据；对各个流程子序列的若干质量监测指标的测试数据时序序列进行实时监测，获取各个流程子序列的质量测试结果；根据各个流程子序列的若干质量监测指标获取各个流程子序列对应的质量测试内容；对各个质量监测指标均被标记为质量测试合格的流程子序列进行稳定分析；构建可靠性决策模型，对接收的流程子序列的各个稳定指标和不稳定指标的稳定分析系数进行分析决策；从而显著提高质量评估的效率和准确性。

本发明授权应用LED显示屏加工的GOB工艺质量评估系统在权利要求书中公布了：1.应用LED显示屏加工的GOB工艺质量评估系统，其特征在于，包括监控中心，所述监控中心通信连接有数据采集模块、质量测试监测模块、测试内容自适应模块、数据分析模块、可靠性决策模型构建模块和阈值分析模块； 所述数据采集模块用于获取当前GOB工艺流程信息，将GOB工艺流程划分为若干流程子序列，根据所述流程信息设置边缘监测节点，根据各个流程子序列的质量测试内容，获取各个流程子序列的若干质量监测指标的测试数据； 所述质量测试监测模块用于对各个流程子序列的质量测试中的若干质量监测指标的测试数据时序序列进行实时监测，获取各个流程子序列的质量测试结果； 所述测试内容自适应模块用于根据各个流程子序列的若干质量监测指标获取各个流程子序列对应的质量测试内容，包括： 获取各个流程子序列在若干历史测试周期内的不同测试环境区间强度等级对应的质量测试结果，对所述质量测试结果进行统计分析，获取各个流程子序列的各个质量监测指标在不同测试环境区间强度等级的质量测试不合格概率； 根据各个流程子序列的各个质量监测指标在不同测试环境区间强度等级的质量测试不合格概率，将各个流程子序列的各个质量监测指标划分为稳定指标和不稳定指标； 判断各个流程子序列是否存在不稳定指标，若流程子序列不存在不稳定指标，则选取最低测试环境区间强度等级作为流程子序列的质量测试内容，若流程子序列存在不稳定指标，则筛选出不稳定指标在不同测试环境区间强度等级的最大质量测试不合格概率，获取最大质量测试不合格概率对应的测试环境区间强度等级作为流程子序列的质量测试内容； 所述数据分析模块用于对各个质量监测指标均被标记为质量测试合格的流程子序列进行稳定分析，包括： 若流程子序列的各个质量监测指标均被标记为质量测试合格，则获取各个稳定指标在当前测试周期内的测试数据时序序列，根据所述测试数据时序序列，获取各个稳定指标的稳定分析系数； 同理，获取各个不稳定指标在当前测试周期内的测试数据时序序列，根据所述测试数据时序序列，获取各个不稳定指标的稳定分析系数； 将流程子序列的各个稳定指标和不稳定指标的稳定分析系数发送至可靠性决策模型构建模块； 所述可靠性决策模型构建模块用于构建可靠性决策模型，对接收的流程子序列的各个稳定指标和不稳定指标的稳定分析系数进行分析决策，包括： 根据稳定指标的稳定分析系数和不稳定指标的稳定分析系数构建可靠性决策模型，将流程子序列的各个稳定指标和不稳定指标的稳定分析系数输入可靠性决策模型，根据可靠性决策模型输出可靠性分析系数，同时获取流程子序列的可靠性分析系数阈值，将可靠性分析系数与可靠性分析系数阈值进行比较，若可靠性分析系数大于等于可靠性分析系数阈值，则将流程子序列标记为GOB工艺质量合格； 若可靠性分析系数小于可靠性分析系数阈值，则选取最高测试环境区间强度等级作为流程子序列对应的二次质量测试内容，根据所述二次质量测试内容对各个流程子序列的LED显示屏进行二次质量测试，获取流程子序列的各个质量监测指标的测试数据，将所述测试数据发送至质量测试监测模块进行分析，获取流程子序列的各个质量监测指标的测试数据不位于对应的质量监测指标阈值区间的累计时间，若存在流程子序列的质量监测指标的累计时间大于累计时间阈值，则将流程子序列标记为GOB工艺质量不合格，若流程子序列的各个质量监测指标的累计时间均小于等于累计时间阈值，则将流程子序列标记为GOB工艺质量合格； 所述阈值分析模块用于根据各个流程子序列的若干历史测试周期中的测试数据，获取各个流程子序列的可靠性分析系数阈值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市元亨光电股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区永福路118号永威工业园A栋1层-6层, B栋1层和3层, D栋1层-2层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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