合肥工业大学佐磊获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥工业大学申请的专利一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119402842B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411468091.1，技术领域涉及：H04L43/08；该发明授权一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法是由佐磊;张一卓;雷碧航;孔维业;李凌烁;袁莉芬;尹柏强;李兵设计研发完成，并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法，方法步骤如下：S1：将RFID标签线性阵列分布，并记录标签的数量n和间距；S2：记录标签工作波长λ，并计算标签间距的波长数dλ；S3：依据标签的数量n和波长数dλ对标签线性阵列分布RFID系统性能的数学模型求解，获取系统性能衰减最明显位置的性能衰减量；S4：通过性能衰减量确定激活所有标签所需要的发射功率提升倍率。本发明的性能预测方法具有计算量小、计算速度快和适应性普遍等优点。
本发明授权一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法在权利要求书中公布了：1.一种标签线性分布情形下的RFID系统性能预测方法，其特征在于，方法步骤如下： S1：将RFID标签线性阵列分布，并记录标签的数量n和间距d； S2：记录标签工作波长λ，并计算标签间距的波长数dλ； S3：依据标签的数量n和波长数dλ对标签线性阵列分布RFID系统性能的数学模型求解，获取系统性能衰减最明显位置的性能衰减量； S3中标签线性阵列分布RFID系统性能的数学模型如下： ； ； ； 其中，表示标签群系统性能衰减最明显位置的功率传输系数； 系统性能衰减最明显位置的性能衰减量的计算方法为： ； S4：通过性能衰减量确定激活所有标签所需要的发射功率提升倍率； S4中发射功率提升倍率的计算方法为： 。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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