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龙图腾网获悉深圳市舟鸿半导体科技有限公司申请的专利一种晶圆测试结果用加严修正筛选方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119480668B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411591543.5，技术领域涉及：H01L21/66；该发明授权一种晶圆测试结果用加严修正筛选方法及系统是由蒋文;祝厚全设计研发完成，并于2024-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种晶圆测试结果用加严修正筛选方法及系统在说明书摘要公布了：本申请提供了一种晶圆测试结果用加严修正筛选方法及系统，通过识别晶圆上芯片布局版图的版图数据；对资源信息进行潜在奇点识别，得到芯片放置单元域中芯片布局的奇点布局信息，确定晶圆上芯片布局测试时进行偏差修正响应的瞬态响应数据；生成芯片布局版图中芯片相邻位元上的连续失效特征，确定晶圆上芯片布局测试时进行偏差修正响应的动态响应数据；根据瞬态响应数据和动态响应数据确定晶圆在芯片布局测试时的反馈修正指标，再加严过滤失效的计算机芯片设计用的晶圆上的芯片。上述方案基于反馈修正指标对晶圆测试结果进行筛选，可以实现在加严修正筛选时产生性能偏差识别不足的影响下，提高晶圆测试时加严修正筛选的准确性。

本发明授权一种晶圆测试结果用加严修正筛选方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种晶圆测试结果用加严修正筛选方法，其特征在于，包括如下步骤： 对计算机芯片设计用的晶圆进行芯片布局测试，识别晶圆上芯片布局版图的版图数据； 对所述版图数据进行修正约束，得到晶圆上芯片布局版图中芯片布局的约束距离，根据所述约束距离确定芯片放置单元域中芯片间的元件偏移； 获取计算机芯片设计用的晶圆在进行芯片布局规划时占用的资源信息，对所述资源信息进行潜在奇点识别，得到芯片放置单元域中芯片布局的奇点布局信息，通过所述奇点布局信息和所述元件偏移确定晶圆上芯片布局测试时进行偏差修正响应的瞬态响应数据； 基于计算机芯片设计用的晶圆在进行芯片布局后芯片功能连接的网表连接信息生成芯片布局版图中芯片相邻位元上的连续失效特征，根据所述连续失效特征确定晶圆上芯片布局测试时进行偏差修正响应的动态响应数据； 根据所述瞬态响应数据和所述动态响应数据确定计算机芯片设计用的晶圆在芯片布局测试时的反馈修正指标，依据所述反馈修正指标加严过滤失效的计算机芯片设计用的晶圆上的芯片。

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