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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种用于长焦距光学系统的焦距高精度检测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119509918B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411468715.X，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种用于长焦距光学系统的焦距高精度检测装置及方法是由鄂可伟;张泊泊;罗勇强;薛勋;刘尚阔;冯方;王涛设计研发完成，并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于长焦距光学系统的焦距高精度检测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于长焦距光学系统的焦距高精度检测装置及方法，解决了现有的焦距检测方法检测重复精度低、精确度差且不适用于长焦距光学系统的的问题。本发明通过使用分光棱镜分光的办法，将光学系统返回光的光斑聚焦在成像清晰的探测器上，代替常规检测方法对玻罗板像的观瞄，调节平面反射镜的偏摆角度，分别记录光斑的移动位置和平面反射镜的偏摆角度，后续通过图像处理准确计算出光斑的移动量，进而计算出光学系统的焦距。

本发明授权一种用于长焦距光学系统的焦距高精度检测装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于长焦距光学系统的焦距高精度检测装置，所述光学系统包括相对设置的光学系统主镜3和光学系统次镜4； 其特征在于：包括高精度测角系统1、第二平面反射镜2、第一平面反射镜5、第一干涉仪镜头7、分光棱镜8、探测器9、第二干涉仪镜头10以及干涉仪本体11； 所述干涉仪本体11出射测量光； 所述分光棱镜8用于将测量光透射； 所述第一平面反射镜5用于将透射的测量光反射至光学系统次镜4，并经光学系统次镜4和光学系统主镜3依次反射而出，形成平行光； 所述第二平面反射镜2设置在平行光所在光路上，用于将平行光返回至光学系统主镜3，返回光依次经光学系统主镜3反射、光学系统次镜4反射、第一平面反射镜5反射至分光棱镜8，再经分光棱镜8分为返回透射光和返回反射光；所述返回透射光进入干涉仪本体11； 所述高精度测角系统1用于测量第二平面反射镜2的角度； 所述探测器9设置在返回反射光所在光路上，用于探测光斑； 所述第一干涉仪镜头7设置在分光棱镜8与第一平面反射镜5之间，以对透射的测量光进行会聚；所述第二干涉仪镜头10设置在分光棱镜8与探测器9之间，以对返回反射光进行会聚； 或者，第二干涉仪镜头10设置在分光棱镜8与第一平面反射镜5之间，以对透射的测量光进行会聚；所述第一干涉仪镜头7设置在分光棱镜8与探测器9之间，以对返回反射光进行会聚。

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