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龙图腾网获悉无锡维度机器视觉产业技术研究院有限公司;合肥工业大学申请的专利一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源及其设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119668011B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411889949.1，技术领域涉及：G03B15/05；该发明授权一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源及其设计方法是由卢荣胜;谈士涛设计研发完成，并于2024-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源及其设计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源及其设计方法，该光源是由镜像对称的两个斜照线光源组成，任意一个斜照线光源的LED灯板发出的均匀线发散光束先照射至该斜照线光源的凹柱面反射镜，该凹柱面反射镜会将均匀线发散光束会聚成均匀线会聚光束并转折反射至该斜照线光源的平面反射镜，然后经平面反射镜再次转折反射并通过该斜照线光源的椭圆光扩散板扩散，最后交叉照射在该同轴线光源的发光面G上，并在发光面G的对称中心线上叠加成具有交叉性、倾斜照射性、线均匀性特点的照明线光束。本发明同轴线光源相较于传统线光源，可以更好地应用于高精度线扫描检测场景中。

本发明授权一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源及其设计方法在权利要求书中公布了：1.一种用于高精度线扫描检测的同轴线光源，其特征在于，所述同轴线光源位于待检测物体与外部线扫相机之间，与外部线扫相机构成同轴成像结构；所述待检测物体的待检面位于同轴线光源的发光面G上，所述外部线扫相机的线扫中心线与同轴线光源的发光面G的对称中心线平行，且两条线所确定的镜像平面P垂直于待检测物体的待检面；所述同轴线光源包括：左斜照线光源和右斜照线光源，且所述左斜照线光源和右斜照线光源关于所述镜像平面P对称放置； 所述左斜照线光源，包括：左线光源主体结构1L1、左气冷散热器1L2、左LED灯板1L3、左凹柱面反射镜1L4、左平面反射镜1L5、左椭圆光扩散板1L6； 所述右斜照线光源，包括：右线光源主体结构1R1、右气冷散热器1R2、右LED灯板1R3、右凹柱面反射镜1R4、右平面反射镜1R5、右椭圆光扩散板1R6； 在所述左线光源主体结构1L1的内腔中按照折返式的线会聚光路依次设置有所述左LED灯板1L3、左凹柱面反射镜1L4、左平面反射镜1L5、左椭圆光扩散板1L6； 所述左线光源主体结构1L1的背面LB上设置有左气流槽，用于气冷散热； 所述左气冷散热器1L2是由起均温作用的左基板和起散热作用的左翅片构成，且所述左基板上均分布着一个左进气孔和一系列均匀分布的左出气孔，用于实现吹气散热； 所述左气冷散热器1L2的左基板与所述左线光源主体结构1L1的背面LB紧密贴合； 所述左LED灯板1L3固定于所述左线光源主体结构1L1的内腔基准平面LS上，且所述内腔基准平面LS与所述左线光源主体结构1L1的背面LB平行；且左LED灯板1L3上设置有非等间距排布的LED灯珠； 所述左凹柱面反射镜1L4用于对左LED灯板1L3发出的左均匀线发散光束L-ULDB进行会聚转折； 所述左平面反射镜1L5用于对左凹柱面反射镜1L4会聚转折后的左均匀线会聚光束L-ULCB进行再次转折； 所述左椭圆光扩散板1L6位于所述左线光源主体结构1L1的内腔出光口LO，用于对左平面反射镜1L5反射后的左均匀线会聚光束L-ULCB进行扩散； 在所述右线光源主体结构1R1的内腔中按照折返式的线会聚光路依次设置有所述右LED灯板1R3、右凹柱面反射镜1R4、右平面反射镜1R5、右椭圆光扩散板1R6； 所述右LED灯板1R3发出的右均匀线发散光束R-ULDB先照射至所述右凹柱面反射镜1R4后会聚成右均匀线会聚光束R-ULCB，然后右均匀线会聚光束R-ULCB照射至右平面反射镜1R5后，被转折反射至右椭圆光扩散板1R6，再经过右椭圆光扩散板1R6扩散后，最终与左椭圆光扩散板1L6扩散的左均匀线会聚光束L-ULCB交叉照射在所述同轴线光源的发光面G上，在发光面G的对称中心线上叠加成具有交叉性、倾斜照射性、线均匀性特点的照明线光束。

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